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第 26卷第 4期 长 春理工大学学报 Vo1.26 Nak4
2003年 12月 JournalofChangchunUniversityofScienceandTechnology Dec.20 0 3
文章编号 :1oo4—485X 【2003)O4一oo67一O3
ZnSe晶体加工工艺研究
张 亮 李建立 魏 东 刘景和
(长春理工大学 材料与化工学院 ,长春 130022)
摘 要 :制备 了ZnSe晶体 ,对其生长和k_T-工艺进 行 了研 究 ,提 出了一些合理 的解 决办法。测
试结果表 明,所得 ZnSe晶体适合用于红外窗 口材料 。
关键词 :ZnSe晶体 ;加工工艺 ;红外窗 口材料
中图分类号 :0786 文献标识码 :A
ZnSe属直接带隙 II—IV 族半导体 ,面心立方 表 1 ZnSe主要性能参数
结构 ,具有优异 的理化性质 ,可用于制造蓝光半导
体激光器件 、光探测器件 、非线性光学器件 、波导
调制器等同时作为优秀 的红外材料 ,是红外透镜 、
激光窗 口、红外热像仪的首选材料 ,对该晶体 的生
热膨胀系数 7.57×1O一6k一1
长和加工工艺进行研究是十分重要 的。目前 国内在 比热
导热系数 16w/m-k一8w/re.k
光学 晶体加工方面虽然已有三 四十年的历史 ,也取 吸收系数 mim transmittancd
得 了不少进展 ,但 比起光学玻璃 的加工在技术上还
2.1 晶体缺 陷的检测
显得不够成熟 ,主要表现在生产成本高 ,生产效率
为了提高晶体加工 的成 品率 ,降低成本 ,对 晶
低 ,好 的加工技术还未能推广使用 ,很多加工技术
体缺 陷的检验是十分必要 的。同时,晶体 中的缺 陷
还处于摸索阶段 ,远远不能满足对 ZnSe晶体应用
对光学材料的均匀性 ,光损耗等均有影响,所 以必
的需要 。本文在总结现有技术基础上 ,对 ZnSe晶
体 的加工进行 了一些研究 。 须在加工之前对晶体的完整性进行检测 。而且 由于
晶体 内部 的不完整 ,会给加工带来 了许多 问题 ,主
1 ZnSe的基本性能 要有 以下几种 :
(1) 由于晶体切割时,震动 比较大 ,当碰到 晶
目前用来生长 ZnSe晶体 的方法虽然很多但实
体 内部不均匀处 ,会产生崩边 的情况 ,这样会对材
用 的 方 法 主 要 有 以下 几 种 :化 学 气 相 沉 积
(CVD)、物理气相沉积 (PVD)和垂直坩埚下降 料造成不必要 的浪费 。
(VB)法 。这几种方法各有优缺 点,分别有不 同的 (2)在 晶体研磨时,如果遇到晶体缺陷处 ,其
生长厂家在采用 。作为一种 红外 窗 口材料 ,ZnSe 加工余量就难 以确定 ,由于破坏层深度与缺陷比起
晶体的主要性能如表 1 来小的多,所 以必须将余量定为缺陷纵 向高度 。
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