基于JTAG的故障注入的研究.pdfVIP

第五届中国测试学术会议论文集·中国苏／4{．2008年5月 一395一 基于JTAG的故障注入研究 钱军，左德承，苗百利，杨孝宗 哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院，哈尔滨150001，中国 摘要：通过对ARMJTAG调试原理的研究，提出了一种利用ARM调试技术实现故障注入的方法。该方法通过软件 方式利用硬件芯片的调试功能模拟部分硬件管脚故障，实现了一种新的非接触武硬件故障注入途径。 关键词； JTAG,ARM,调试，故障注入 ResearchofFault BasedonJTAG Injection QianJun．ZUO Bai—li．YANG De—cheng。MIAO Xiao·zong Schoolof Scienceand Instituteof 150001 Computer Technology,Harbin Technology,Harbin Abstract：Basedontheresearchof onARM fault methodwhichARM is JTAG,a used debugtheory injection debugtechnologyproposed． ThemethodUSeS functionstosimulatesomehardware realizedaflewmethodofnon—contacthardware debugging failure，which chip pin fault injection． words： Key JTAG,ARM，Debug，FaultInjection 实现部分硬件芯片管脚上的信号处于固定为高(stuck 1 引言 at at 1)、固定为lff。(stuck 故障注入是进行产品测试和系统验证的重要技术 整个电路不能正常工作。由于该方法利用硬件芯片的 手段。通过有意识的向系统注入故障来加速测试过程。 调试功能，因此只能模拟部分硬件故障。本文利用了 流行的故障注入法主要有硬件注入法、软件注入法和 ARM7核的调试功能，因此本文提出的方法的应用领 重离子辐射法等3种方法。硬件注入法一般都是管脚 域是以ARM核为处理器的嵌入式系统领域。 级的注入，通过改变管脚的电流或电压来达到向系统 2 ARM JTAG调试概述 注入故障。软件注入法一般是对各种存储器和寄存器 的内容进行修改，从而达到注入故障的目的，这种方 ．；丁AG测试标准是联合测试行动小组(JTAG)提 法受到实时性的限制，且模拟的故障模式有限。重离 出的边界扫描测试方案，并被IEEE接纳，形成JTAG 子辐射法则是将芯片短时问暴露在重离子辐射源中， 标准【3]。该标准用插入边界扫描结构的全新技术和方 随机对芯片注入故障。对于重离子辐射法，它们能模 法，解决了j卷片测试技术的问