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材料导报
超声喷雾热解法制备 Mg~Zn一O薄膜及其性能研究/曹信言等 ·337 ·
超声喷雾热解法制备MgZn1--x0薄膜及其性能研究
曹信言,王 华,许积文,杨 玲 ,任明放
(桂林电子科技大学材料科学与工程学院,桂林 541004)
摘要 采用超声喷雾热解法在石英玻璃衬底上生长出不同组分的宽禁带Mg~Zn1--xO薄膜(—O、0.08、
0.16、0.25)。通过 x射线衍射 (XRD)、扫描 电子显微镜(SEM)和分光光度计等分析测试手段对 Mg.Zn1--xO薄
膜的晶体结构、透光性及禁带宽度进行了研究。结果表明,随着Mg含量的增加,Mg.rZn1--xO薄膜仍然保持着
ZnO的纤锌矿结构,没有生成MgO相,Mg可以有效地溶入 ZnO的晶格中。MgxZn1--xO薄膜具有 良好的透光
性,在可见波段的光透过率达 85 以上;此外,随着Mg含量的增加,Mg~Znl--xO薄膜的吸收边出现蓝移现象,
禁带宽度从 3.30eV增大到 3.54eV。
关键词 超声喷雾热解法 Mg~Znl--xO薄膜 透光性 禁带宽度
CharacteristicsofM g~Znl一O ThinFilmsPreparedbyUltrasonic
SprayPyrolysisM ethod
CAOXinyan,WANG Hua,XU Jiwen,YANGLing,REN Mingfang
(SchoolofM aterialScienceandEngineering,GuilinUniversityofElectronicTechnology,Guilin541004)
Abstract DifferentMgcontentoflargebandgapM&Zn1--xO(x=O,0.08,0.16,0.25)thinfilmsaredeposi—
tedonquartzglassbyultrasonicspraypyrolysis(USP)method.X—raydiffraction(XRD),scanningelectronmicroscopy
(SEM)andspectrophotometermeasurementsareemployedtoanalyzethecrystallinity,opticalpropertiesandbandgap
ofthefilms.Theresultsshow thatthefilmsremainZnO wurtzitestructureandhavenoanyimpurityphasewiththe
increaseofM gcontent,andtheZn2。。aresuccessfullysubstitutedbyM inZnO lattice.Allthefilmshaveexecllent
transparence,andtheaveragetransmittanceforthevisiblewavelengthregionismorethan85 .Inaddition,thereisan
obviousshiftoftheabsorptionedgetoshorterwavelength(buleshift)withtheincreaseofMgcontent.Inthemean—
time,itsbandgapenergyincreasesfrom 3.30eV to3.54eV.
Keywords ultrasonicspraypyrolysis,Mg~Zn1 0films,transmittance,bandgap
能电池以及紫外发光器件等方面具有广阔的应用前景[4]。
0 引言
射频磁 控溅 射 (RFMS)l8J、金 属有 机 物气 相外 延
近年来,由于紫外光电材料和器件潜在 的广 阔应用前
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