基于LabVIEW的纳米颗粒动态散射光模拟.pdfVIP

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光电工程

第 2 9 卷 增刊 光电工程 Vol.29, Sup 2002 年 12 月 Opto-Electronic En gineerin g Dec, 2002 文章编号:1003- 501X( 2002) Sup- 0043- 03 基 于 La VI EW的 纳 米 颗 粒 动 态 散 射 光 模 拟 申 晋,郑 刚,孙 国强,庄松林 (上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海 200093) 摘要:采用实 验 室 虚 拟 仪 器 工 程 平 台 La VIEW 实现了纳米颗粒动态光散射信号的计算机模 拟。用 G 语言( 图形语言)设计了信号模拟的框 图程序 ,给 出了 5nm, 15 nm 两种粒径颗粒的模拟动 态散射光信号及 自相关函数 。对 模 拟 信 号 的 粒 度 分 析 表 明 ,这 两 种 模 拟 信 号 产 生 的 测 量 偏 差 分 别 为 0 .4nm 和 - 0 .6n m 。 关键词 :颗粒测量 ;动态光散射;计算机模拟 ;粒度分析 中图分类号: TN247 文献标识码:A Computer simulat ion of n an ometer par ticle dyn am ic light scatt er in g y L a VIEW SHEN J in, ZHENG Gang, SUN Gu o-qiang, ZHUANG Song-lin (College of Optics and Electron ic Information En gineering , Sh angh ai Un iver sity of Scien ce a nd Technology, Shangh ai 2 00093, China) A st ra ct : Computer simulation for nan ometer p article dynamic light scattering is carried out y La VIEW. Flow ch art program for sign al simulation is designed y G langu age (graph ic language). Simulated dynamic scattering light sign als and autocorrelation functions for two particles of 5nm and 15nm are given. The grading analysis for th e simulation sign als shows th at measuring error s produ ced y the simulated signals is 0.4nm an d -0 .6nm, respectiv ely. Key wor d s: Particle size measurement ;Dynamic light scattering;Computer simu lation ;Particle size analysis 引 言 动 态 光散 射 (D yn a m i c l i ght sc a t t er in g 简 称 DL S ) 技 术 是 研 究散 射 光 在 某 一 固 定 空 间 位 置 的 涨 落 现 象 , 已被 证 明 是 一 种 适 于 微 米 以 下颗 粒 粒 度 测 量 的有 效 方 法 , 其 测 量 原 理 建 立 在 颗 粒 的 布 朗 运 动 基 础 之 上 [ 1 ] [2 ] 。 由于 布 朗运

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