双频光栅用于动态过程破裂表面的三维重建.pdfVIP

第37卷第3期 光 电工程 V_0l_37．No．3 2010年 3月 Opto—ElectronicEngineering March，2010 文章编号：1003—501X(2010)03—0144—07 双频光栅用于动态过程破裂表面的三维重建 任伟锋，苏显渝，向立群 (四川大学 光 电科学技术系，成都 610064) 摘要：针对在冲击炮轰等快变化过程的傅里叶变换轮廓术测量中，CCD的拍摄速度低于物体的运动速度导致对动 态条纹的时间采样不足，提出了采用双频正弦光栅进行测量的三维轮廓术，以傅里叶轮廓术为基础，利用低频光 栅条纹图的截断相位做标记条纹，跟踪锁定高频光栅条纹图的同一级次条纹，利用高频光栅的变形条纹进行动态 破裂物体的三维面形重建，有效的解决了在快变化动态过程的三维测量中因时间采样不足和条纹断裂带来的问题， 正确的获得了物体的面形分布。计算机模拟实验和对瓷砖破裂过程的实际测量验证了此种方法的正确性。 关键词：傅里叶变换轮廓术；冲击过程；三维面形测量；双频光栅；标记务纹 中图分类号：0438 文献标志码：A doi：10．3969~．issn．1003．501X．2010．03．027 3-D SurfaceShapeRestorationforBreakingSurfaceofDynamic ProcessBasedonTwo-frequencyGrating REN W ei—feng，SUXian—yu，XIANG Li-qun (@ to—electronicsDepartment,SichuanUniversity，Chengdu610064，China) Abstract：Inthequickchangeprocessofimpactorblast，samplingrateofCCDislowerthanobjectmoverate，which resultindeficiencyofCCD’Ssampling．AnovelmethodbasedonFourierTransformProfilometry(FTP)wasproposed，in whichatwo—rfequencysinepatternsisprojectedontotheobjectandthedefomredfringeiscapturedbyCCD．Some problemscausedbydeficiencyofsamplingandbreakingfringesweresolvedin3-Dphaseunwrappingbyusingthe low—rfequencygratingunwrappingphasemarkedrfinges．Thesamerankofhigh—rfequencydeformedfringeswas~acked bymarkedfringes，and3-D phaseunwrappingbyhigh—rfequencygrating rfingeswasobtained．Computersimulation experimentandglazedtileruptureexperimentprovesthefeasibilityofthismethod． Keywords：Fouriertransform profilometry；impactprocess；3-D surfaceshapemeasuring；tworfequencyrgating； markedfringes 0 引 言 光学三维面形测量方法 由于具有非接触、高速、高精度、易于在计算机控制下实行 自动化测量等优点， 受到人们的广泛关注，已得到大量深入研究并且被广泛应用。在几种主动三维传感技术中，I~ITakeda等cl。2』 人提出的傅里叶变换轮廓术(Fouriertransformp