X荧光光谱分析仪在材质管控上的应用.pdfVIP

中国通信学会2010年光缆电缆学术年会论文集 X荧光光谱分析仪在材质管控上的应用 彭缀 (成都大唐线缆有限公司成都611731) 摘要l本文简要介绍了x荧光光谱分析仪(XRF)的工作原理，并举例说明了XRF在实际质 量控制中的应用实例。 关键词lX荧光光谱分析仪(XRF)波长色散能量色散谱图 1． 前育 X射线荧光分析技术作为常规分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的 不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。目前，X射线荧光分析不仅成为地质、 冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段，也是材料科学、生命 科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，x射线荧 光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。X射线荧光分析技术作为 一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检 测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法(例如：发射光谱、吸收光谱、 分光光度计、色谱质谱等)，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成 本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 首先，我们先初步了解XRF的工作原理。 当分析仪X光管产生的x光照射到被测样品上时，构成样品的每一种元素都会发出一个 特定波长的X光。当混合光进入装在样品周围的各单色光镜中，各单色光镜晶体会选择性地 将特定波长的X光反射至探测器中，计算机处理系统根据探测到的x光的强度及其与相关成 分含量的对应关系，便可计算出相关成分的含量。因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。 ．1lO． 彭嫒：x荧光光谱分析怔在材质管控上的应用 ，： _ 波长色散型和能量色散型谱仪原理图 能量色散谱仪是利用荧光X射线具冉不同能量的特点，将其分开并检测，不使用分光品 体，而是依靠半导悻探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，键漂移锗探铡器， 高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电r一窄穴对．电f一空穴对在电场作坩 r形成电脉冲．脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时问内．来自试样的荧光X射线依 次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲．经放大器放大后送到多道 脉冲分析器(通常要1000道以E)。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用x 光子的能量标度．从而得到计数率糖光子能量变化的分布曲线，即X光能谱圈。能谱图经计 算机进行校正，然后显示出来。其形状与波谱类似．只是横瘫标是光子的能量。 能量色散的晟太优点足可咀同时测定样品r{·几乎所有的元素。因此．分析速度快。另一方 面．由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射 线。*外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体秘也小。目前线缆 q，产厂家通常采用能量色散X荧光光谱分析仪。 中国通信学会2010年光缆电缆学术年会论文集 2． 应用实倒 作为通信线缆生产企业X荧光光谱分析仪不仅可以作为有毒有害物质的检测手段，满足 欧盟的RollS指令、国内的电子信息产品中有害物质的限量要求，还可多方面扩展其应用空间。 首先，光纤是光缆生产企业每天都要使用的材料之一，但目前市面光纤品牌繁多，仅从光 学性能上难以区分各厂家光纤。但各光纤厂家的涂覆层、包层的材料有所差异，因此其光谱曲 线也有所不同。 以下是4个品牌光纤的光谱曲线： Cotis l r 186· 14争 ”2· M 74· 37· hj艘j矗／＼＼生肛厂 品牌A： ll