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预测试中的噪声抑制与消除技术 随着电子技术的飞速发展，使得人们越来越多地享受到科技进步带来的诸多便 利，但科技的发展也引发了一些问题，而恰恰是这些问题可能会带来很多麻烦，比如 环境噪声问题，这里所说的噪声是指环境或背景中所存在的电磁噪声，从电磁场的角 度，可以毫不夸张的说，我们现在所生活的世界里充满了各种各样的噪声，如果你打 开 RF 频谱分析仪，就会发现这不是危言耸听。人为的噪声占有很大的比重，由于它的 存在会直接影响测量，如果是在一个没有任何屏蔽的环境下，甚至会将有用信号完全 淹没而导致测量失败。因此我们必须对环境噪声问题给予特别关注。 事实上对如何消除和避免环境(背景)中的噪声对测试的影响这个问题的争论由来 已久，但到目前为止争论的双方都没有确凿的证据可以充分说明其正确性，本文将通 过一些简单的实验来说明如何解决这一困扰人们很久的问题，而且是非常清楚和彻底 的。噪声消除技术大多在下面两种情况中使用，即检定和测量。这里所说的检定技术 是指在高水平噪声的环境中对被测物的辐射进行定位，众所周知，如果不采取一些环 d 境噪声抑制技术，定位被测物的辐射是非常不准确的。测量技术中的噪声抑制要比检 定中的要求要高，因为测量的目的就是要获得被测物准确的辐射水平。本文将以测量 e 技术中的噪声抑制为核心，对噪声抑制的各种严格的要求进行说明，以求达到合理抑 r 制噪声的目的。 e EMC 测试设备制造公司所提供的仪器设备中一般采用了两种背景噪声抑制和消除 t 技术，第一种方法是首先测量背景噪声，之后让被测物 (EUT)开机并进行第二次测量， s 然后在软件中用第二次测量的结果减去第一次测量的结果以剔除背景噪声 (即差分技 i 术)；第二种方法是使用双通道分析仪，可采用两种方案，其一是采用近场探头进行测 g 量，同时利用远场天线的测试数据对近场探头的数据进行修正，并假定任何有意义的 辐射都能在 EUT 的近场区检测出来，而且近场探头是对环境噪声是不敏感的。其二是 e 同时使用两个远场天线，并将其中一个放置在距测试单元有意义的距离内，最终采用 差分技术提取 EUT 的辐射。 R 上述两种方法可以说各有千秋，但没有谁是完美的 ！比如方法一会因为背景噪声 n 是涌动的而遇到很大的麻烦(事实上在很多频段内噪声都是涌动的)，但这种方法的潜 在优点是任何标准的 EMC 接收机或分析仪都可以采用；而与此相对方法二中的两个方 U 案都需要使用特殊的双通道 EMC 分析仪，而且方案 1 中有一个明显的问题就是假定近 场探头对背景噪声是不敏感的，事实上非常强的环境噪声会通过与 EUT 相连的缆线感 应出来，其效果就好象是有一个近场信号产生了辐射。最主要的是方法一和方法二中 的第二个方案都采用了差分技术，运用是否合理是这两种方法的关键 ，而且也是本文 的主题。 采用多种差分方法计算处于噪声环境中的 EUT 的辐射水平，其可信度或者说有效 性是以假定同时存在两个或多个辐射源的情况下场强会增加为前提的。这看起来是显 而易见的，而且是在开阔场 (OATS)测试中证明过的。众所周知，在标准测试环境中直 接入射的信号与经地平面反射的信号相叠加，会使得场强增加约 6dB，如果是在线性 坐标中，这意味着增大了一倍。当然此时辐射源的强度是基本差不多的，而且这些辐 射源是严格关联应该并且是同相，如果改变这种相位关系(比如改变天线的高度)效果 就完全不一样了，所以说相位问题很重要，具体说对 EUT 的辐射和环境噪声信号的测 量有什么影响？下面通过一些实