《现代分析技术》复习题.docVIP

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  • 2015-08-29 发布于重庆
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《现代分析技术》复习题.doc

《现代分析技术》复习参考题 99.12 一、扫描电镜与电子探针 电子与表面相互作用的物理过程及产物。 什麽是激发深度?什麽是信息深度?了解它们对实际测量有什麽意义?hkl)晶面弯曲成曲率半径为2R的柱面,再把外形磨成曲率半径R的柱面? 12.电子探针能谱仪中硅检测器和多通道分析器的原理。 二、扫描隧道显微镜与原子力显微镜 STM的原理、特点和基本工作模式。 AFM的原理及其关键技术。 隧道结电流和距离、平均逸出功大致是什麽关系?隧道电流一般在什麽量级?针尖与表面距离每变化1A,隧道结电流大致改变多少? STM的分辨率与哪些因素有关? 减小震动的基本途径。如何达到对大多数频率干扰,针尖-样品间隙的变化比基座振动的振幅小5个数量级? 用STM和AFM测量样品形貌对样品各有什麽要求? 如何用AFM测量样品的弹性和塑性? 控制微小距离移动方法。 三、俄歇电子能谱 什麽是俄歇跃迁?主要特点是什麽? WiXpYq俄歇跃迁的意义是什麽?什麽是C-K跃迁、超C-K跃迁? 荧光过程和俄歇过程有什麽关系?为什麽随着原子序数增加分别使用KLL、LMM和MNN系俄歇跃迁? 为什么检测到的俄歇电子反映的是表面信息?信息深度大约多少? 俄歇电流大小与哪些因素有关? 如何提高AES的信背比?微分谱与直接谱的区别。 怎样识AES谱?如何进行元素定性分析? 常用AES谱元素定量分析方法。 如何利用俄歇电子能谱

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