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◆LED I/O接口原理图 * * 嵌入式实验 1（汇编） 一、实验内容： 1、 编写一个汇编程序，功能为从S1数组中找偶数，找到后将其放在S2数组中。已知S1数组的长度为10个字。 2、在主程序中调用子程序P1，子程序的功能为在字节数组S1中查找0x41若找到返回存放0X41的地址，若没有找到返回0。主程序根据返回的内容，分别将返回的地址存入MEM中，返回的0存入R0中。 二、实验设备 1、PC机 2、ARM2410实验箱 3、JTAG仿真器 三、实验要求： 1）采用ADS ARM Executable Image 模板定义工程 2）建立汇编文件，并添加到工程中。 3）将RO地址修改为0WR地址修改为0 4）提供电子档的实验报告 嵌入式实验 2（汇编） 一、实验内容： 1、 实验电路如图所示。编程实现：当K1键第一次按下时，LED1-LED4 全亮，当K1键第二次按下时，LED1-LED4全熄灭。然后重复以上过 程。 二、实验设备 1、PC机 2、ARM2410实验箱 3、JTAG仿真器 三、实验要求： 1）初始化I/O口的程序设计成子程序结构。 2）使用伪指令EQU来确定I/O口的地址。 例: rGPECON EQU O 3）提供电子档的实验报告 下 返 返 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是5线：TMS、TCK、TDI、TDO，TRST分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出及复位线。 　　JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable#0;在线编程），对FLASH等器件进行编程。 返 边界扫描寄存器 TAP MCU外围输入输出通道 TCK TMS TDI TRST TDO 嵌入式实验 3 一、实验内容： 编写一个启动程序，然后调用C程序来完成蜂鸣器及LED1间隙蜂鸣及间隙点亮。 二、实验要求： 1）采用ADS ARM Executable Image 模板定义工程 2）工程中包含Start.s及Test.c两个文件 3）定义中断矢量入口 4）初始化用户堆栈及IRQ堆栈。（函数名为 InitStack） 5）在启动程序中用汇编编写以下共C调用的函数 上 下 ●Init_IO：初始化IO口 ●Beep： 蜂鸣器打开 ●NBeep： 蜂鸣器关闭 ●Led1_ON：LED1亮 ●Led1_OFF：LED1熄 6）主函数名：void Main(void) 7）在Test.c 文件中定义DelayNS(int dly)延时函数。 三、实验步骤 1）打开试验箱电源 2）运行H-JTAG 3）建立工程文件 4）在工程中建立S、及C文件夹 5）在S文件夹中建立Start.S文件、在C文件夹中建立Test.c文件 6）配置ADS 四、实验报告内容 1）阐述ARM启动过程 2）阐述I/O口使用的步骤 3）提供完整实验程序 嵌入式实验 4（中断） 一、实验电路 二、实验内容 程序启动时，LED1-LED4追逐点亮，当按下K1键时改变LED1-LED4变化 的花样（LED1、LED2亮，LED3、LED4熄灭）。再次按键时LED1-LED4恢复 到启动时的状态，重复以上过程。 三、实验要求 1）采用2410程序模板建立工程 2）中断服务程序：IRQ_EINT4() 3）中断初始化