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基于规范化描述的微处理器功能测试.pdf
第 卷第 期 扬州大学学报(自然科学版)
3 1 Vol.3No.1
年 月 ( )
2000 2 JOURNALOFYANGZHOU UNIVERSITY NATURALSCIENCEEDITION Feb.2000
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基于规范化描述的微处理器功能测试
龚茂康1 宋 琦2
( 扬州大学工学院电子科学与工程系,江苏扬州, ;
1. 225009
扬州大学工学院计算机科学与工程系,江苏扬州, )
2. 225009
摘 要:基于规范化描述,提出了对微处理器进行功能测试的一种方法,给出了实现和结论 对各种复杂数
.
字系统测试有一定的理论和实用价值.
关键词:微处理机;控制器;功能;测试
中图法分类号: ; 文献标识码: 文章编号: ( )
TP332.3 TP306 A 1007 824X 200001 0075 04
微处理器( )的功能测试,因其引脚有限、功能越来越强大而变得很具有挑战性 从我国生产和
MP .
使用 的现状来看, 并非计算机系统的最薄弱环节,但从发展民族的微电子工业、 技术在我
MP MP ASCI
[]
国日趋流行的大局考虑 1 ,研究并借鉴最为复杂的 IC-MP的功能测试方法,仍具有理论和现实的意义.
1 MP功能的微指令规范化描述
[]
根据 层次设计 的方法学 2 , 内部模块主要包括控制器、 和寄存器阵列,控制器和
IC MP RALU
[]
内部也都具有模块化结构 3 同时由于任何一个 指令系统的指令编码均有一定规律,每条
RALU . MP
指令的执行都是在一定数量时钟同步下,通过一系列内部和对外部的操作来完成的,因此用寄存器级硬
[]
件描述语言来描述整个指令系统进而反映 MP功能是合适的 4 .
定义 1.1 微操作是使 MP内部状态改变的由时钟同步的最小操作.
内部的状态是指其控制器的状态、 的状态(即数据)、内部 的状态(即数据)的组
MP RALU RAM
合 微操作的具体内容,对 来说不应是十分复杂的运算,而只可能是数据在两个寄存器间的直
. RALU
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