测试系统的负载效应及其改善措施.pdfVIP

维普资讯 第 l8卷第 2觑 洛 阳 工 学 院 学 报 l9‰ 2 1997年 6月 $ournalofLuoyan9h m ·otTed~ osy Ju咖 1gg7 资‘料法)分类号 ：lklg$8．al ⑨ 测试系统的负载效应及其改善措施 yf一 郭爱芳扬俊英 7『 ———疏 …一 。 摘要 本文通过对一计蔼试系坑和二旰蔼试系坑负载效应的分析，提出了测试系坑负载效应的改 善措施，从而 美蝴 拦 塑 臌 0 前言 在测试工作中，为了完成测试任务，测试系统往往由若干个环节通过串联或并联的方式所 组成．在现有诸多测试技术文献中，都以各环节的传递函数乘积或之和来计算测试系统的传递 函数[ ．这些结论都是基于各环节之间没有能量交换，因此各环节互联前后仍保持原来的传 递函数．这种只有信息交换 (传递)而没有能量交换的联接只能说是一种理想的情况． 事实上，当一个测量环节接到另一个被测环节上时，必然对前者产生影响，并引起某些能 量的交换，这就是测试系统的负载效应．由于负载效应的影响，使被测量值发生某些偏离，甚至 造成测量的失败．出现这种现象主要有两个原因’【]：一是联接点的状态即联接点的物理参效将 发生变化；二是各环节都不再简单地保持原来的传递函数，而是共同形成一个整体系统的新传 递函数，故整个系统的传辖特性将会有所变化。因此在测试系统的选择时必须考虑这类负载效 应，必须分析接入负载后对被研究对象的影响． 1 一阶测试系统的负载效应 图1为两个础 低通滤波器串联前后的电路系统 ·图。和图b中辖出电压与输入电压之I可 的传递函数分剐为∞： 。)= 一而 1 (1) 以 (。)= = 1 (2) 式中 =扁 tf| 岛 —嘞 剐为两个歼节的时间常数 若未知任何隔离措麓而将两环节直接串联(图c)，尉自联接点右侧阻抗为- zt= 岛 + = = 鼻蔓芳t女．1954年生 ．鼻■ 收■刚％,199b1~-19 维普资讯 · 82 · j苦 阳 工 学 院 学 报 1997拒 xz =．=-—— 一t■)。—(’。。。。。。。。‘。。。。。。-’--—‘————_-—‘r--一z)(‘ L ． ， ．．． ．．． ．．．． ．．．． ．．．． ． ．．． ．．．— — (b) 工 (t】 田1一辟 试|l坑的盘t鼓应 令z表示窘最后右侧电路的阻抗，则 。 z； 1∥z 1-t-f~． = 号 =_ 又令联接点的电压为