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评 述 第45 卷 第23 期 2000 年 12 月 空间电荷在聚合物老化和击穿过程中的作用 李吉晓 张冶文 夏钟福 秦晓岿 彭宗仁 ( 同济大学波耳固体物理研究所, 上海 200092; 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室, 西安 710049. Email: yewenzhang@online.sh.cn) 摘要 空间电荷对聚合物老化和击穿的影响已成为人们研究的热点, 但以往的解释模型大都是以 电荷的注入导致电介质中的局部电场增强引起击穿和电子注入直接使聚合物大分子链的断裂为 出发点的, 没有从空间电荷对电介质材料的微观结构的影响上考虑. 在计算了空间电荷周围的电 磁能和电机械能的基础上, 结合一些最新的实验结果, 说明聚合物的老化和击穿是发生在空间电 荷脱陷时, 与空间电荷周围的电机械能的释放有关. 关键词 空间电荷 击穿 聚合物 聚合物绝缘材料由于其优良的加工 介电和热等性能, 在绝缘领域的应用日益广泛, 自 应用之日起, 聚合物的老化和击穿就一直是人们关注的焦点. 人们对有机绝缘材料的电老化 和击穿进行了大量的实验, 试图查明聚合物老化与击穿和物质结构的关系, 知道了一些电老 化过程中材料发生的化学变化, 也从中归纳出了寿命公式. 1982 年, Kao 把陷阱模型引入聚合 [1] 物的击穿过程 . 他认为以往建立在晶体结构上的老化和击穿理论不再适用于聚合物, 因为聚 合物的载流子迁移率非常低, 聚合物介质禁带较宽, 局域态密度大大超过了热平衡载流子密 度. 由于聚合物是晶相与非晶相共存, 长程无序, 短程有序, 使载流子遭到的散射非常强烈, 寿 命极短,从而聚合物中的载流子很难从电场中获得足够的能量引起碰撞电离或击断聚合物分子链. [2] 后来Dakin 根据电老化经验公式和热老化经验公式推出聚合物的寿命模型 : U b(E E T ) L C exp , (1) kT 其中b 和 C 为常数, U 为老化活化能, ET 为导致老化的电场强度的阈值, T 为绝对温度. 但所有的这些模型都是基于宏观的 唯象的模型, 参量没有明显的与材料结构相对应的 物理意义. 近年来, 若干种能对空间电荷分布进行测量和定量分析的方法发展起来, 例如压力 波法(PWP)(也叫激光感应压力波法(LIPP)) 电声脉冲法(PEA) 激光光强调制法(LIMM) 热 脉冲法(TP)和类似原理的温度波法(TWP). 这些方法为认识聚合物的老化和击穿积累了大量 有价值的资料, 使人们的认识从宏观领域深入到微观领域, 认识到空间电荷在聚合物的老化 [3,4] 和击穿中扮演了重要角色 , 提出了若干空间电荷对聚合物老化和击穿的影响的解释的模型, 例如电子注入和抽出模型 热电子模型和聚合物的光降解模型等.