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X-射线荧光光谱测量大理石产品中主量元素 崔世文（广东省） 摘要：本文采用熔融玻璃片法，用X射线荧光光谱测量大理石产品中Ca、Mg、Si、Fe、Al等主量元素的荧光强度，并与测量标准物质所建立的标准曲线进行对比计算，确定测试样品中的含量。该方法简单、快速、准确，通过试验证明，采用X射线荧光光谱测量的标准样品与标准值，与化学法测量的结果相符。X-射线荧光光谱法所测大理石产品中的各元素相对标准变差RSD＜%，精密度高。 关键词：熔融玻璃片法；X射线荧光光谱；主量元素 天然大理石是地壳中原有的岩石经过地壳内高温高压作用形成的变质岩。属于中硬石材，主要由方解石、石灰石、蛇纹石和白云石组成。其主要成分以碳酸钙为主，约占50%以上。其他还有碳酸镁、氧化钙、二氧化硅等。 采用X射线荧光光谱分析速度快、精密度高、重现性好、一次可给出多种组分信息等优点作为一种实时、在线分析，X射线荧光光谱能够准确及时给出检测结果；且随着计算机技术的发展，X-射线荧光光谱仪在研究、分析等领域-3]的应用越来越广泛。 实验部分 工作曲线建立本文实验采用国家一级标准物质10个光谱纯CaO。其中8个用于标准曲线的建立，2个用于标准曲线验证。 标准物质含量范围如下： 表1标准物质含量范围组分 CaO MgO SiO2 Al2O3 Fe2O3 最大值 56.00 20.37 15.60 5.03 2.52 最小值 25.32 0.21 0.012 0.057 大理石产品主要成分为碳酸盐，化学组成简单。我们采用熔融玻璃片法制样，可以完全消除矿物效应和颗粒粒度效应，使熔片在原子水平达到均匀。 1.2 1.2.1 X-射线荧光光谱仪：帕纳科PW4400/40； 1.2.2 熔样机：GHB-K1高频熔样机，熔样温度1050℃； 1.3 试剂 1.3.1 熔剂：66Li2B4O7/33LiBO2熔剂与试验比一般控制在10：1； 分析 元素 分析线 Line 分析晶体 X-tal 准直器 Collimator 探测器 Detector 电压 kV 电流 mA PHD/LL PHD/UL Ca Kα LiF200 150μm Si Kα PE002 150μm Flow 24 100 25 75 Al Kα PE002 150μm Flow 24 100 25 75 Mg Kα PX1 550μm Flow 24 100 35 65 Fe Kα LiF200 150μm Scint 50 50 19 65 1.5 基体校正和谱线重叠校正 PW PW4400/40所配套的操作软件为SuperQ5.0，其校正模式是以计数率、浓度或两者为基础的综合模式，其数学表达式为： 为校正样品分析元素的含量；为分析元素的校准曲线截距；为分析元素的校准曲线斜率；为分析元素与内标的强度比值；、、为元素间影响校正小数；为分析元素的含量或计数率；为干扰元素对分析元素谱线重叠干扰校正系数。 结果与讨论 2.1检出限 根据各元素的测量时间和检出限的计算公式（置信度95%）： 式中：—单位含量计数率；—背景计数率；—峰值和背景的总计数时间。 表3 各分析主量元素的检出限表 分析元素LLD（10-6） Ca 14 9.67 Si 14 97.43 Al 14 34.51 Mg 16 19.82 Fe 6 13.08 2.2精密度 采用国家标准物质CaO光谱纯GBW03106制备熔融片10个，测量统计结果见表4。 表4 方法的精密度试验结果 组分 CaO SiO2 Al2O3 MgO Fe2O3 最大值 (%) 最小值(%) 平均含量（%） 49.25 47.82 48.53 4.02 3.81 3.92 0.93 0.89 0.91 3.64 3.58 3.60 2.00 1.97 1.99 RSD（%） 0.26 0.74 1.34 0.62 0.35 由表4中的数据计算可知，采用X荧光光谱法测量大理石产品中主量元素相对误差RSD＜1.5%。 2.3准确度 为了验证X-射线荧光光谱法测量的准确度，采用未加入标准曲线的标准物质制作验证样品，并与采用化学分析的结果进行对比，所得结果符合实验室要求。结果见表5。 表5 准确度试验结果对比 样品 编号 分析 方法 CaO SiO2 Al2O3 MgO Fe2O3 01 熔片法 55.357 0.221 0.096 0.291 0.098 化学 55.415 0.194 0.113 0.284 0.108 02 熔片法 54.953 0.382 0.027 0.674 0.072 化学 54.783 0.416 0.020 0.703 0.067