商品条码的检验方法.doc

商品条码的检验方法 检验项目 GB/T18348规定的检验项目共12项，其中包括参考译码、最低反射率、符号反差、最小边缘反差、调制比、缺陷度、可译码度、Z尺寸、宽窄比、空白区宽度、条高和印刷位置。 参考译码 条码符号可以用参考译码算法进行译码，检验译码结果与该条码符号所表示的代码是否一致。译码正确性是条码符号能被使用和评价条码符号其他质量参数的基础和前提条件。 最低反射率 最低反射率是扫描反射率曲线上最低的反射率，实际上就是被检测条码符号条的最低反射率。最低反射率不大于最高反射率的一半（即Rmin≤0.5Rmax） 符号反差(SC) 符号反差是扫描反射率曲线的最高反射率与最低反射率之差，即SC=Rmax-Rmin。符号反差反映了条码符号条、空颜色搭配或承印材料及油墨的反射率是否满足要求。符号反差大，说明调控颜色搭配合适或承印材料及油墨的反射率满足要求；符号反差越小，则应在条、空颜色搭配，承印材料及油墨等方向找原因。 最小边缘反差（ECmin） 边缘反差(EC)是扫描反射率曲线上相邻单元的空反射率与条反射率之差。最小边缘反差（ECmin）是所有边缘反差中最小的一个。最小边缘反差反映了条码符号局部的反差情况。如果符号反差不小，但ECmin小，一般是由于窄空的宽度偏小、油墨扩散造成的窄空处反射率偏低，或是窄条的宽度偏小、油墨不足造成的窄条处反射率偏高；或局部条反射率偏高、空反射率偏低。边缘反差太小会影响扫描识读过程中对条、空的辨别。 调制比（MOD） 调制比（MOD）是最小边缘反差（ECmin）与符号反差(SC)的比，即MOD=ECmin/SC。它反映了最小边缘反差与符号反差在幅度上的对比。一般来说，符号反差越大，最小边缘反差就要相应大一些，否则调制比偏小，将使扫描识读过程中对条、空的辨别发生困难。 缺陷度（Defects） 缺陷度（Defects）是最大单元反射率非均匀度（ERNmax）与符号反差（SC）的比，即Defects=ERNmax/SC。单元反射率非均匀度（ERN）反映了条码符号上脱墨、污点等缺陷对条/空的反射率造成的影响。反映在条码反射率曲线上就是脱墨导致条部分出现峰，污点导致空（包括空白区）的部分出现谷。若条/空单元中不存在缺陷，那么条的部分无峰，空的部分无谷，这些单元的反射率非均匀度（ERN）等于0。缺陷度（Defects）是条码符号上最严重的缺陷造成的单元反射率非均匀度（ERNmax）与符号反差（SC）在幅度上的对比。缺陷度大小与脱墨/污点的大小及其反射率、测量光孔直径和符号反差有关。在测量光孔直径时，脱墨/污点的直径越大、脱墨反射率越高和污点反射率越低，符号反差越小，缺陷度越大，对扫描识读的影响也越大。 可译码度 可译码度是条码符号条/空宽度印制偏差有关的参数，是条码符号与参考译码算法有关的各个单元或单元组合尺寸的可用容差中未被印制偏差占用的部分与该可用容差之比中的最小值，如图所示。 参考译码算法通过对参与译码的条/空单元及条/空组合的宽度规定一个或者多个参考阈值（即界限值）。允许条/空单元及条/空组合的宽度在印制和识读过程出现一定限度的误差即容许误差（容差）。由于印制过程在前，所以印制偏差先占用了可用容差的一部分，而剩余的部分就是留给识读过程的容差。可译码度反映了未被印制偏差占用的、为扫描识读过程留出的容差部分在总可用容差中所占的比例。 Z尺寸（Z dimension） Z尺寸是指条码符号中窄单元的实际尺寸 宽窄比 对于只有两种宽度单元的码制，宽单元与窄单元的比值称为宽窄比。 空白区宽度 空白区的作用是为识读设备提供“开始数据采集”或“结束数据采集”的信息的。空白区宽度不够常常导致条码符号不能识读，甚至误读，因此空白区的宽度尺寸应该保证，如下图所示。印制的的条码符号空白区尺寸不应小于规定的数值。而空白区宽度在条码符号印制过程中容易被忽视，所以在国际标准ISO/IEC 15420将空白区宽度作为参与评定符号等级的参数之一。GB 12904—2003则暂时将其列入强制性要求，商品条码符号的空白区宽度不符合要求，该条码符号及被判定为不合格。 放大系数 空白区最小横向尺寸 放大系数 空白区最小横向尺寸 左侧 右侧 左侧 右侧 0.85 3.09 1.92 1.40 5.09 3.24 0.90 3.27 2.08 1.50 5.45 3.47 0.95 3.45 2.20 1.60 6.18 3.70 1.00 3.63 2.31 1.70 6.18 3.93 1.05 3.82 2.43 1.80 6.54 4.16 1.15 4.18 2.66 1.90 6.90 4.39 1.20 4.36 2.78 2.00 7.26 4.62