Z箍缩诊断中椭圆晶体谱仪测量数据的处理.pdf

第22卷第9期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol-22，No．9 LASERANDPARTICI。EBEAMS 2010年9月 HIGHPOWER Sep．，2010 文章编号： 1001—4322(2010)09—2037—05 Z箍缩诊断中椭圆晶体谱仪测量数据的处理。 李 晶h2， 谢卫平1， 黄显宾1， 杨礼兵1， 蔡红春1， 肖沙里3 (1．中国工程物理研究院流体物理研究所，四川绵阳621900；2．清华大学工程物理系，北京100084， 3．重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室，重庆400030) 摘 要： 以氖气喷气Z箍缩的实验结果为例，详细讨论了椭圆晶体谱仪测量数据的处理方法，包括使用 标定结果将胶片黑密度转换为X光强度，根据已知谱线的能量和扫描点序号对测量能谱的能点进行定标，以 及使用Henke给出的考虑谱仪非均匀色散效应、晶体积分反射率和X光滤片透过率后的公式对测量能谱的强 度进行修正，给出了最终的解谱结果。并使用Lorentz线型函数拟合谱线轮廓，求出了H。，He。和He8等K壳 层谱线的相对强度，对处理后能谱强度的误差进行了简单分析。 关键词：椭圆晶体谱仪；数据处理；Z箍缩诊断；“阳”加速器 中图分类号：0433．1；0434．12文献标志码：A Z箍缩等离子体作为一种高效的软X光辐射源，具有高辐射功率、高产额和高效费比等优点，在聚变点火、 聚变能源、强辐射效应和高能量密度物理的研究中有着重要的应用前景[1。3]。在Z箍缩诊断中，使用等离子体 光谱学方法对测得的X光辐射谱，特别是线辐射谱的相对强度、展宽和线型等特征量进行细致分析已经成为 估计等离子体的电子温度、电子密度和平均电离度等参数的主要方法【4巧]。与其它测量X光谱的手段相比，晶 体谱仪具有很高的谱分辨力，是目前获取z箍缩等离子体线辐射谱的主要仪器，但是晶体谱仪中影响X光传 输和记录的因素较多，其测量数据必须经过仔细处理才能得到等离子体辐射出的X光谱。本文在简要介绍椭 圆晶体谱仪结构和Z箍缩实验装置的基础上，结合氖气喷气Z箍缩的实验结果，详细讨论了椭圆晶体谱仪测 量数据的处理方法。在考虑了X光胶片响应、X光能量的定标、谱仪的非均匀色散效应、晶体积分衍射率和X 光滤片透过率等因素的影响后，得到了氖等离子体辐射出的X光能谱，并求出了H。，He。和He。等K壳层谱 线的相对强度。 1椭圆晶体谱仪和典型实验结果 I．I谱仪原理和结构 晶体谱仪依靠晶体表面和内部周期排列的原子点阵对X光的相干散射实现分光。晶体对不同波长(或能 量)X光的衍射规律由Bragg定律描述 2dsinO=以=n(hc／E) (1) 式中：d为晶面间距；口为入射X光与晶面间的夹角；，z为衍射级次；A为X光波长；h为普朗克常数；f为真空中 光速；E为X光能量。由于晶体的晶面间距(约1nm)已经与1～10keV的软X光的波长处于同一数量级，因 此使用晶体测得的光谱具有很高的分辨力，一般可达500～1000。除分辨力高外，晶体的另一个突出优点是在 一定工艺条件下可以弯曲，实际使用中可以根据几何光学原理和Bragg定律设计并加工出具有不同表面形貌 的晶体，使其在分光的同时兼具聚焦、发散和成像等特殊性能。椭圆晶体谱仪使用椭圆面的晶体进行分光，其 o)后被记录。X光胶片是最常用记录介质，实际中常将胶片放置在以焦点(f，o)为圆心的半圆上，以达到等光 程的目的。由椭圆几何性质可推知图中各角度间的关系为 卢=0+arccos(cosa／e) (2) 口+』9=20 (3) 式中：e为椭圆的离心率。椭圆晶体谱仪的优点之一就是可以在焦点(f，o)处放置通光孔，从而极大地抑制杂 ·收稿日期：2010—01—07； 修订