原子力显微镜的原理与应用.docVIP

原子力显微镜 原子力显微镜Atomic Force Microscope, AFM）起源于扫描隧道显微镜技术，属于扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope, SPM）家族中的一种。它广泛应用于生物、物质结构、分子生物学等领域，在蛋白单分子结构与功能研究中得到广泛地应用[]1.1 AFM的原理 AFM通过探测探针与被测样品之间微弱的相互作用力(原子力)来获得物质表面形貌的信息，分辨率可达原子级水平。 AFM采用显微制作的探针扫描待测样品表面，探针被固定在一根有弹性的悬臂的末端，悬臂通常由金和硅的材料制成。探针在样品表面扫描时，测量探针与样品之间的相互作用力，随着针尖与样品表面之间距离的不同，相应产生微小的作用力，就会引起悬臂的偏转。反馈电路通过控制扫描头在垂直方向上的移动，使扫描过程中每一点( x, y)上探针和样品之间的作用力保持恒定;当激光束照射在悬臂的末端，经反射进入光电检测器。针尖与样品表面的距离不同使得激光束的方向发生改变，这就使光电检测器接收到的信号变化，送入计算机的电脉冲也产生相应的变化，检测器将反射的激光束转化成电脉冲，电脉冲信号经过计算机处理，然后计算机将这些信息转换成或明或暗的区域，这样扫描头在每一点( x, y)上的垂直位置被记录，作为样品表面形貌成像的原始数据，从而产生了有明暗对比度的样品的表面形貌图像，可得到样品表面的三维形貌图像[