11.2量具稳定性报告.xlsVIP

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  • 2015-09-21 发布于浙江
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Sheet2 Sheet1 R n X Cp Tu Tl 日期 X1 X2 X3 Cpk计算: X控制图: R控制图: A2 D4 1/d2 Cpk UCL=X+A2R= UCL=D4R= LCL=X - A2R= LCL不考虑 编号:QD-103-8.4-03 X-R控制图 PYKC SPC控制 工序:银浆印刷 控制特性:孔电阻 测试位置:测试点 标准值: ≤100mΩ 频次:3枚/次,3次/批 量具稳定性报告 零件号和名称: 特性: 量具名称: 量具号: 日期: 判定: X控制图: R控制图: n X R UCL=X+A2R= LCL=X - A2R= UCL=D4R= LCL不考虑 A2 D4 PCB 板厚 千分尺 PYKC-WJ-12 2003/6/4-2003/7/8 控制图分析显示,测量过程是稳定的,因为没有出现明显可见的特殊原因影响。测量系统可接受。 作成/日期: 批准/日期: 6/4 6/5 6/6 6/10 6/11 6/12 6/13 6/17 6/18 6/19 6/20 6/24 6/25 6/26 6/27 6/9 6/16 6/23 6/30 7/1 7/2 7/3 7/4 7/7 7

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