一种八位单片机的测试解决方案.pdf

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2015-09-24 发布于安徽
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3．4．的测试说明………．．．……．Y ．．23 3．5小结…．．．．．．．．……．．……．．．．．……．．．．．．．．．．．……．．．…25 第四章单片机的可测性设计……………………………………26 4．1SCAN测试…．．…．．…．．……．…………．．………………26 4．1．1SCAN测试原理…………………………………．．26 4．1．2 SCAN测试实现…………………………………．．27 4．2BIST测试………，……………………………………．．28 4．2．1BIST测试原理…………………………………．．29 4．2．2 MBIST的应用……………………………………30 4．3IDDQ测试………………………………………………30 4．3．1IDDQ测试原理…………………………………．．31 4．3．2IDDQ测试方法．…．…．．．………．．………．……．．．31 4．4测试模式的应用………………．…………………………32 4．5EDA软件使用举例………………………………………．．33 4．5．1SCAN流程………………………………………33 4．5．2 ATPG流程………………………………………36 4．6小结……………．．．．…．．．……．…．．．…．．．……………38 第五章单片机的量产测试……………………………………．．39 5．1单片机测试实例…………………………………………．39 5．1．1量产测试设备．．………………，…．．……………．40 5．1．2芯片特性介绍…………………．……．．．…．……．4l 5．1．3建立测试计划……………………………………43 5．2测试向量的硬件实现………………………………．……，．44 5．2．3向量的周期化………．…．……．…………．……．．44 5．2．4向量施加和测量…………………………………．45 5．3测试项目和方法…………………………………………．47 5．3．1直流参数测试……………………………………47 5．3．2交流参数测试………．…．………………………．52 5．3．3单片机功能测试……．．…．………．………．……．．54 万方数据 ● ● ● ● ● ● ‘ ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● 5．4测试程序结构………．．…．．．． ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● 5．5失效分析．．．…．．．．．．…．．．…． ● ■ ● ● ●