精确测定小型晶体透光率的一种技术.pdfVIP

维普资讯 e粥 光 学 仪 器 11拳 ～ 种精确测定小型晶体透光率的技术 陈 文 章 (中科 院福建物 质鲒 构研 究所 ) 提 要 本文用 自行设对的池 架测定小型晶体 的透光率。由于光路对称性豇好，100％线在100．0 q 99．9％ 用Pr—Nd滤 光片在新老池 架上谱 尽一致。用这种滤 光 片在 池架的 T340nm 为 43．8 ，在新的池架上审43．9 (三次平糟．)，误羞0．1 ，相对标准编差0．23 。 用BBO (B—BaBz0 ‘)晶体在_r34Onm和T200nm的标准偏差 0．11 ，相对标堆 编 差 0．21 。 用TAM H2N— C (CH2OH )3] 晶体在T200nm，T340rim 和 Tg00nm的 标 准 偏 差 0．20％，相对标 准偏 差 0．28 。 一 、 引-． 言 在评价晶体产品和研究晶体生长过程 中．很有必要精确测定小型晶体的透光率。但=^；普通 分光光度计中其池架上的光通面积大，一般为 (25ramx10mil1)，而一般小型晶体很 小 (供 出口的BBO晶体小至3mm×4mm)，培精确测定带来困难。由于无法把晶体直接放在脲池 架上测定，如 自行设计光通面积小的池架 (包括样品架及相应的参 比架 )，势必使两光路的 对称性变差 ，影 响100％线平稳，使测定的重现性和准确度变坏等 。 本文用 自行设计的池架 (图1)插在仪器的原池架上，簏克服上述困难使光 路对 称 性 良 好，100 线平稳，测定的重现性和准确度保持原来水平 。术法可 以胜任各种不同面 积 品体 的品质鉴定和晶体生长过程 中未成型晶体的性能研究。 二 、 测 试 原 理 ● 设I。为原来 的光 强度，I为光通过厚度l后的强度，使lambert定律 ，透 光 率 ( t ) Jj 度l间的关系： 一_Il0=ek 用分光光度计就可以测定各种晶体的透光率。 在进行自动波长扫描时，在每一波长位置都必须校正空白，这就要求用双光束分光：拖度 计 (虫1岛『津uV一3000型)，该仪器中的单色仪把单光束用切光器分成双光束，使分别道过 样品架和参 比架。但小型晶体面积很小，无法直接放在仪器的原样 r架上进行透光率{8]i定a 一 18— 维普资讯 8 光 学 仪 器 ll卷 为此必颓另行设计样 ·架千fJ参 比架 这髋要求两个架子要十分接近 ．光 蹄对称性要 良好，10O％ 线性 平稳等。满足这些条件才能进行正常测定。． 三 、 检 测 方 法 1．主要仪器和材料 。 阳木岛津uV～30OO分光光度计，标准Pr—Nd渤 片，BBO(B—B 0 )品体，TAM (三羟 甲基 甲胺 )品体 和NYAB品体 。 2．新池架 的设计 掘 晶体丽稠火小设计一组不 同透光 我 (如从直径2mm到8mm)的池架，有 时 晶体 为小 方形的可 计小 眨疗形透光孔的池架。据困1的设计要求取材 (可选用 铝 质 )进 行 初 加 工， 叮先钻戚 (或铣出 )一对透光孔径接近的池架，然后分别在仪器样品空干¨参 比室的匾池 架上捕进新设计的池架，要求它们遂光孔径的太小、高度要一致 。这 可以确静J步加工的基础 上再一边精身¨加：T．一边 ：动分光光发计跟路观察100 线平