X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析.pdfVIP

　第 16 卷 　第 12 期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol. 16 ,No. 12 　 　2004 年 12 月 HIGH POWER LASER AND PARTICL E BEAMS Dec. ,2004 　 文章编号 : 　100124322 (2004) 1221553205 X X 射线法测量的 ICF 靶丸参数的图像分析 杨 　冬 , 　虞孝麒 , 　龚达涛 ( 中国科学技术大学 近代物理系, 安徽 合肥 230026) 　　摘 　要 : 　在 ICF 靶丸参数测量中 ,采用接触 X 射线显微辐射照相法获得靶核的 X 射线吸收底片图像 ,将 该底片放置于显微镜下并用 CCD 获得了数字化图像。基于该数字化图像信息 ,编写了一套完整的计算机算法 来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心 ,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置 , 计算精度约为 0. 2pixels 。 　　关键词 : 　ICF 靶 ; 　X 射线法 ; 　辐向平均法 ; 　二阶微分 　　中图分类号 : 　TP274. 2 　　　　文献标识码 : 　A ( ) ( 　　在惯性约束聚变 ICF 实验中 ,靶丸参数的测量是一项非常重要的环节。常用的聚变靶丸是内充氘氚 D/ ) μ μ μ T 气体的空心塑料或玻璃微球 ,直径为 50～1 000 m ,壁厚为 0. 5～20 m ,壁厚偏差要求在 0. 03～0. 5 m , 内 外壁不同心度在 0. 1～0. 5μ m 。常用的测量手段有光学干涉法和 X 射线显微辐射照相法 ,干涉法对测量单层 ( μ ) 透明微球精度是较高的 约为 0. 05 m ,但不适合多层球或非透明球。X 射线法是 20 世纪 70 年代发展起来的 技术 ,最早在美国的 LLNL 得以应用[1 ,2 ] ,它采用微密度计[3 ]或 CCD 摄像获得 X 射线图像数据并进行分析 ,可 以测量包括单层或多层在内的塑料和玻璃微球。实验的操作和处理过程包括图像数据的获取、靶丸中心定位、 靶丸内层分界面定位及壁厚计算。我们对 CCD 获取的数字化图像进行分析 ,给出便于计算机处理的算法及计 算结果 ,并且采用模拟图像验证了算法的稳定性与精度。 1 　图像获取的实验原理 　　接触 X 射线显微辐射照相法测量靶丸参数原理如图 1 所示[4 ] ,它采用 6keV ,3. 6A 的电子束轰击钨靶 ,从 而产生焦斑为 10μ m 左右的轫致辐射 X 光并照射到 5. 5cm 远的底片上 ,在距底片 0. 5mm 的样品支架上镀制 300nm 厚的碳氢薄膜 ,在该薄膜上放置待测量的多层微球靶。由于靶丸不同层材料对 X 射线的吸收系数不相 同 ,在底片上就可得到一定层次的靶球截面图 ,对靶球进行不同角度的照射可得到同一靶球的多幅底片图像。 由于X 射线源尺寸远小于源到底片的距离 ,X 射线近似平行地穿过微球 ,在底片上可记录到几乎无放大的微 ( ) 球图像。对微球底片采用高分辨 CCD 摄像记录 ,得到数字化后的 X 射线图像 见图 2 ,然后通过计算机处理 就得到微球参数。