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晶格常数的测定

晶格常数的精确测定 问题 为什么要精确测定晶格常数? 造成晶格常数误差的原因有哪些? 用哪些衍射线计算晶格常数误差较小?为什么? 如何获得精确的晶格常数? 一. 为什么要精确测定晶格常数 研究晶体结构中的化学键 研究固溶体的成分 研究晶体的膨胀与收缩 ……。 二. 晶格常数的误差来源 焦点位移 试样表面离轴 试样透明 平板型试样 垂直发散 实验条件选择不当 1. 焦点位移 焦点位移——衍射仪调整不当,线焦点不在2θ=180°位置。 设位移量为X,R为测角仪半径,则由此引起的误差为 2. 试样表面离轴 平板试样的表面与衍射仪轴不重合,即试样表面不与聚焦圆相切。 设离轴位移为S,试样表面在聚焦圆外侧为正,则由此引起的误差为: 3. 试样透明 当试样的吸收系数μ较小时,即使试样表面与聚焦圆相切,也相当于有一正值的表面离轴位移,从而使衍射角偏小。试样透明造成的误差为: 4. 平板型试样 由于平板试样与聚焦圆不完全重合,因此试样上各点的衍射线不能聚焦于一点,从而引起衍射线变宽和峰位移动。当入射线的水平发散角α不大时,峰位移动为: 5. 垂直发散 入射线经过梭拉光栅后,仍有一定程度的发散度。当梭拉光栅的垂直发散度为β时,衍射角的误差为: 测角仪上的光路狭缝系统 如图所示,光路狭缝系统由梭拉光栏A、发散狭缝DS、防散射狭缝SS、梭拉光栏B和接收狭缝RS组成。 6. 实验条件选择不当 实验条件选择不当,如扫描速度太快,也会造成峰位偏移。测角仪的刻度误差和0°误差也可包括在内。这些原因造成的误差往往不随衍射角变化,故可用常量η表示。 三. 精确测定晶格常数的基本原理 将布拉格公式λ=2dsinθ微分,得 当θ接近90°,ctgθ趋向0,由θ的误差产生的d值误差趋向于0。 四. 精确测定晶格常数的一般步骤 正确选择实验条件,获取精确的粉末衍射图; 对衍射图上的衍射线进行标定(指标化); 选择高角度(θ≥60°)的衍射线计算其对应的d值; 根据算出的d值和衍射指数计算晶格常数a0,(b0,c0); 计算对应的cos2θ; 根据求得的(a0,cos2θ)数据作a0-cos2θ图,并用直线拟合外推使之与a0轴相交,此交点为修正的晶格常数。也可用最小二乘法求(a0,cos2θ)的直线,该直线的截距即为所求。 θ≥60°的衍射线很少怎么办? 采用(a0, )数据作图外推或用最小二乘法求直线的办法,可以解决高角度衍射线少的问题。 实例 不同晶系晶格常数与衍射指数及对应面网间距的关系 见讲义17页表1-3 * * 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 聚焦圆 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法 x 射线衍射分析 (1) (2) (3) 从a0值的精度变化曲线也可以看出,当θ趋于90°时,由Δθ引起的误差趋于0。 材料研究方法 x 射线衍射分析 材料研究方法

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