内射测试集（强）余半遗传环.pdfVIP

内射测试集和(强)余半遗传环 九七级基础数学专业研究生：汤建良 导师：程福长教授 易忠教授 内容摘要 近年来， 对内射模的研究已经取得了许多令人鼓舞的进展，特别是 内射测试集和同调维数的研究。我们继续研究了半素Noetherian环和左 FBN环的内射测试集以及交换Arti／liarl环和(强)余半遗传环的同调 维数及(强)余半遗传环的刻画。其中(强)余半遗传环首先在[15]中 研究，Weiminxue在【14]中命名并进一步刻画。 在第一章，我们研究了内射测试集和同调维数。在【7]．[8]和[9】，环 的内射测试集已被研究。关于半素Noetherian环和左FBN环的测试集我 们有 定理1．2．6：设R是半素Noethefian环且每个素理想都有AR性质 设s‘={P∈S：P是R的素左理想且当P是一个双边理想时，RP不是一个 除环。则S‘是一个内射测试集。 定理1．2．7：设R是一个FBN环且每个素理想都有AR性质，S‘=fP ∈Spec(R)：RP不是一个除环。则S‘是一个内射测试集。 关于交换Anini