激光烧蚀-脉冲火花放电等离子体光谱检测技术的研究.pdf

激光烧蚀一陕脉冲火花放电等离子体 光谱检测技术研究 摘 要 Bre出dowrIl 激光诱导击穿光谱(L弱*hlduccd 一种原子发射光谱检测技术。LIBS技术具有快速、实时、微损耗、无需样品准备、多 元素同时分析等特点。LIBS技术在化学分析、环境监测、生物技术、工业在线测量、 文物保护和表面分析等领域有广泛应用。 现有的LmS技术检测极限较低，因而改进LIBS技术以增强信号的强度和降低检 测极限是目前研究的热点。为此研究人员提出了很多改进方法，其中比较典型的有双脉 冲LIBS技术、LIBS技术结合激光诱导荧光光谱技术等。它们在检测性能上都有很大提 ● 高，但都具有装置复杂、成本高等缺点，而且操作繁琐。 近来，N嬲scf和Elsayed．灿i提出一种叫做火花放电一激光诱导击穿光谱的改进方法， 用于检测灿和Cu等导体样品。该技术具有装置简单操作方便的特点，但火花脉冲持续 时间相对较长，容易造成样品和电极的损伤，制约了其测量的稳定性。针对该技术的不 足，本文重