使用8051单片机验证和测试单粒子效应的加固工艺单片机外文翻译毕业设计论文.docVIP

优秀论文 审核通过 未经允许 切勿外传 使用8051单片机验证和测试单粒子效应的加固工艺 摘要 随着代工业务（抗辐射加固设计的芯片制造加工厂专门从事的一项业务）的减少，使用非专用代工业务的新技术逐步发展起来。在这篇论文中，我们将在空间环境中讨论单粒子效应（SEE）的验证方法。课题包括需要测试的类型和设计覆盖面（即他们是否需要验证设计库的每个应用程序？）。文章所提到的8051单片机核心是根据美国航天局的高级微电子研究所（ IAμE）的CMOS超低功耗辐射容错技术（CULPRiT）设计的。它是评价两个8051工业用设备单粒子效应缓和技术的一项设计。 索引词:单粒子效应，加固工艺， 微控制器，辐射效应。 一 导言 美国航天局要在空间辐射环境中最低限度地使用资源条件下，不断努力提供最好科学方法 [ 1,2 ] 。然而，拥有最先进的技术的工业用抗辐射加固微电子器件，几代产品中都有相对局限性，所以美国航天局的这一任务很有挑战性。本文所介绍的方法是使用加固微创设计技术的工业代工。这通常称为加固工艺（HBD） 。 这种使用设计程序库和自动化设计工具设计的常规加固工艺器件可为美国宇航局提供一种解决方法，它能及时满足严格的科学性能规格，具有成本低，和可靠性高的特点。 但是，仍然存在一个问题：常规辐射加固器件有许多和/或硅片辐射条件测试，加固工艺的验证需要哪些类型的试验？ 二