阶跃光激励的半导体光热光偏转现象.pdfVIP

Ⅷ洲删㈣㈣㈣洲磷 1 95040 {Y1 阶跃光激励下的半导体光热光偏转现象 摘要 光热光偏转(Photolll锄al 来的无损检测技术，因其具有灵敏度高，不需要对样品进行预处理，可非接触测量等优 点，已在物理、材料科学等领域获得了广泛的应用。最近，J．zll∞、曾胜财等提出了一 种新的m技术，即阶跃光激励的PⅡ)技术，并进行了初步的实验和理论研究。该技 术与传统PTD技术相比，具有实验装置简单、紧凑，操作简便、快捷等优点。 阶跃光激励的m技术目前尚处于发展阶段，以往的相关研究还仅局限于一般固 体材料的光热效应，并且所测量的大多是材料的热学参数。在我们近期的研究中发现， 半