面阵ccd脉冲激光辐照下的损伤研究.pdfVIP

摘 要 电荷耦合器件CCD(ChargeCoupledDevices)，作为一种新型半导体光电器件， 以其体积小、质量轻、灵敏度高、低功耗等诸多优点，已经被广泛应用于摄 像、侦查、微光夜视、遥感、传真等诸多领域。在光电对抗过程中，CCD探测 器作为光电装备的核心装置，其极易受到激光的干扰与破坏，导致系统瘫痪，带来 巨大的损失。因此，对激光辐照CCD探测器的损伤研究具有十分重要的意义。 CCD实时记录其自身损伤情况，得出了相应的损伤阈值，并对各个阶段的损伤机 理进行了全面的分析。针对激光辐照下CCD光敏区前窗口玻璃透过率的测量，本 文还提出了一种光学玻璃微区损伤的测量装置和方法，通过与理论数据进行比对， 证实此方法现实可行，操作简便，克服了传统方法误差较大的问题，是一种测量微 小面元透过率的有效方法。 关键词：面阵CCD脉冲激光 损伤透过率 测量 ABSTRACT beanew ofsemiconductor deviceoCD，to devices， Charge．coupled