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第36卷第5期 应用光学 V01．36No．5 of 2015年9月 Journal AppliedOptics Sep．2015 文章编号：1002—2082(2015)05—0774—04 一种从粗到精逐步细化的变尺度光栅投影测量方法 王选择1’2，吴雅君1，何涛1’2 (1．湖北工业大学机械工程学院，湖北武汉430068； 2．湖北工业大学湖北省现代制造质量工程重点实验室，湖北武汉430068) 摘要：传统的光栅投影法依靠相移法进行测量，对绝对相位的计算需要应用解包裹算法完成。 由于解包裹算法要求空间相位具有连续性，因此不适合高度变化显著的物体的测量。针对该问 题，提出一种多尺度条纹投影测量的方法，直接获取高密度条纹投影的绝对相位。通过对高密 度64周期条纹扫描投影测量相位的二次拟合曲线的实验处理，在绝对相位[一201，201]的变化 63 范围内，拟合标准差达到0．096rad的精度。 关键词：应用光学；相位处理；逐级估算；变尺度 中图分类号：TN911；N37文献标志码：A doi：10．5768／JA0201536．0503002 Variablescale ectionmethodbasedon proj grating from—coarse-to-finerefinement progressive Xuanzel”，Wu Ta012 Wang Yajunl，He (1．SchoolofMechanical of 430068，China； Engineering，HubeiUniversityTechnology，Wuhan 2．Hubei ofModern of KeyLaboratory ManufacturingQualityEngineering，HubeiUniversity 430068，China) Technology，Wuhan termsofthecalculationofabsoluteinconventional meth— Abstract：In phase gratingprojection ods，the is tothedemand unwrappingalgorithmapplied．Due uponspatialphasecontinuity fromthe isnotsuitableforthemeasurementof ectswith unwrappingalgorithm，it obj step— multi—scale measurementwas forwardtotacklethis height．A fring