主动切换两单元贮备电子系统可靠性研究.pdfVIP

增刊 1 尤明懿 ：主动切换 两单元贮 备电子系统可靠性研究 备电子系统的可靠性，并与对应的传统贮备电子系统可靠性进行 比较 ，以探究主动切换对于提升系统可靠 性的有效性 。 l 建模 本文的研究对象为：两单元贮备电子系统，其 中一个为主份单元，另一个为备份单元 。约定该系统任 务时间为t，在时刻 (≤f)，若主份单元未失效，则切换至备份单元工作，之后若备份单元失效，则继 续切换至主份单元 ；另一方面，若主份单元在时刻 之前失效 ，则立即切换至备份单元工作 。 对于上述贮备系统 ，其系统可靠性数学模型可表达为 ： R (t)= f主份在时刻 前时刻 u失效}×件 {切换开关在时刻 前正常}×件 {备份在时刻 前正常 ，且备份 在时间段 T『，t1内正常1 + {主份在时刻 T前正常}×{Pr{切换开关在时刻 T前正常}× {备份在时刻 T前正常，且在时刻 t 前正常]+件 {切换开关在时刻 前正常)×件 {备份在时刻 T前正常，且在时刻 时失效] × {切换开关 在时刻 前正常／切换开关在时刻 前正常J×件 {主份在在时间段 [T， ]内正常，且在时间段 ，t]内 正常}+ {切换开关在时刻 T时不正常}×件 {主份在时间段 [T，t]内正常}} (1) 式 (1)中：R (t)——两单元贮备系统可靠性函数 ； 旧l——事件 日的概率 ； Pr{H1／H21——在事件 H2的基础上事件H1的条件概率； H— — 小于 的随机时间变量 ： — — 大于 的随机时间变量 进一步地 ．式 (1)可表达为 ： R(0--L~()“ ) )R：(fl)d+ f (。()。R(叫 1 RI(r){+ ) ) (Vl) (VI)(V) IV)dV}= L+[1一 (】R·1(fI) J ()“ )：)R2(fl血+ )R· )·()R‘I+ R】(。 )· (vlr)· )莨·。(lV)食·，OIv)dV]+R )【1一 )】 (2) 式 (2)中： ()——主份单元在时刻 失效的概率密度函数； R ()——切换开关在时刻 的可靠性 函数 ； R2(M)——备份单元在贮备状态下时刻 Ⅱ的可靠性函数； R (tlⅡ)——备份单元在时刻 M时正常情况下在时刻 t的条件可靠性函数 ； R (T)——主份单元在时刻 的可靠性 函数 ； R (u)——切换开关在时刻 的可靠性 函数 ； R (tiT)——备份单元在时刻 正常情况下在时刻 t的条件可靠性 函数； (I)——备份单元在时刻 T正常情况下在时刻 失效的条件概率密度函数 ； R (l)——切换开关在时刻 正常情况下在时刻 的条件可靠性函数； R (vlT)——主份单元时刻 正常情况下贮备状态下在时刻 的可靠性函数 ； R。(tlv)——主份单元在时间段 0【，刀 工作正常，且在时间段 T【， ] (贮备状态)正常情况下在时 刻 t正常的可靠性函数 ： R ( )为主份单元在时刻 正常情况下在时刻 t正常的条件可靠性函数。 DIANZICHANPIN KEKAQxN|GYUHUANJINGSHIYAN 电子产品可靠性与环境试验 2013正 考虑电子系统．假设此时主、备份单元在工作时的失效率分别为A和A2，则主、备份单元在贮备状 态下有失效率 ，7A。和 。对于冷贮备系统有 叼：0，对于热贮备系统有 =1，对于温贮备系统有07／1。 对于切换开关的可靠性 函数 ，本文考察一种常见的情形 ，即：切换开关可靠性为常数 r(包括切换开关完 全可靠 (即r=1)的情况)。 此时，式 (2)可进一步地推导为： R(f)= lexp( l甜)·，．·exp(一刀 2“)·exp[-22(t-u)]du+ exp(-)~T)·厂·exp(一刀