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cusicp(io2)复合材料的制备与性能研究
摘要
摘要
Cu/SiCv金属陶瓷复合材料兼具有铜的高电导率和碳化硅的高模量等特点,
在汽车、电子、先进武器系统中均具有广泛的应用前景。碳化硅增强体含量、
碳化硅与铜两相界面对复合材料的性能具有重要的影响,添加适量的增强体碳
化硅颗粒并对两相界面合理调控,能够得到结构均匀、性能优良的复合材料。
本文采用溶胶凝胶法在微米碳化硅颗粒表面均匀地包裹上无定形态Si02,
复合粉体;通过差热分析仪、X射线衍射仪、Zeta电位仪、扫描电子显微镜等
检测方法对复合粉体的形貌结构与成分进行表征;采用真空热压烧结制备碳化
硅增强铜基复合材料,通过对复合材料的显微结构、成分和密度的表征,分析
制备过程工艺参数对材料的结构和性能的影响;对获得的Cu/SiC(SiO)金属陶瓷
复合材料进行电学性能测试,研究 率的影响,
根据空间电荷效应理论对材料界面性能进行分析。
实验结果表明:利用溶胶凝胶法,可以在SiC颗粒表面均匀的包裹上一层
无定形Si02,包裹效果受反应体系酯醇水配比、温度和pH值的影响;利用化学
置换反应法制备Cu包裹含Si02的SiC复合粉体,si02的存在能够促进两相界
面润湿性结合。复合粉体热分析表明:复合粉体在1058℃左右出现Cu20.Si02
低共熔混合物,从1148℃开始Si02由非晶向晶体转变,温度高于1170℃时,Cu
与SiC发生严重界面反应,生成多种Cu。Si化合物。利用真空热压烧结法能够制
添加量占总体积的20v01.%、合成温度为50℃、真空热压烧结温度为800℃条件
下,制备出的复合材料综合性能最佳;热压烧结过程,复合材料致密化过程是
由流动传质、扩散传质、溶解沉淀三种传质机理共同作用完成。对Cu/SiC(Si02)
进行电学性能分析,发现Si02的存在改变了Cu/SiC复合材料界面结构与界面组
分,并显著改变复合材料的空间电荷界面极化行为。
关键词:Cu/SiC(Si02)复合材料;溶胶凝胶法;置换反应;热压烧结;界面
Abstract
Abstract
the of and
combineboth highelectric—conductivitycopper
composites
Cu/SiCp
modulusof broad inthe
applicationprospects
superiorspecific SiC,having
of
andadvanced content
automotive systems.The
industry,electronicsweapons
carbideand
the interfaceofsilicon
reinforcementand
siliconcarbide two.phase
onthe of materials.Adding
havean composite
impact property
copper important
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