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砾石表面Mn的XPS分析 Depth profiling by SIMS provided general information on the vertical distribution of elements in the surface coating （四） 酸性点 许多工业和生化的反应都发生在矿物的路易斯酸性点和布朗斯特酸性点位置。粘土矿物表面的这些酸性点对有机化合物的转化具有催化作用，以往多采用红外光谱研究这些酸性点，现在用XPS技术也可对这些酸性点进行确定和定量。 Borade等（1990）分析了沸石吸附吡啶后的酸性点，原400eV处的N1sXPS峰分离为398.7eV、399.8eV和401.6eV3个峰。它们分别对应的是路易斯酸性点，弱的和强的布朗斯特酸性点。由XPS分析确定的路易斯酸性点与布朗斯特酸性点的比值与用红外光谱所得到的比值一致。 （五）环境分析 XPS也广泛地被用于环境化学和烟雾化学研究。 Soma等（1985）分析了美国河流沉积物的表面成分。 河流沉积物表面的Cr浓度比Si浓度高3倍以上，虽多集中在细颗粒中，但在粗颗粒表面的Cr/Si比值也较背景样品的Cr/Si比值高，说明在河流沉积物表面包被了一层Cr化合物。 577.2eV的Cr2p3/2峰表明Cr为Cr3+价态， S2pXPS的168.5eV和163.5eV分别是S的+6价和-2价态。Fe2p3/2的711.2eV和N1s的399.8eV峰则分别表明Fe是以+3价，N是以氨基态形式存在。（表3-10） 举例2： 谷氨酸（Glu）和Cu2+在Fe氧化物表面相互作用的XPS分析 (六) 角分辨分析 2mmol/L Glu 存在时，Cu2+在针铁矿表面的吸附率增加了约45%； 去离子水和KNO3都不能将Cu2+解吸下来表明，此条件下针铁矿表面对Cu2+的吸附为专性吸附； 问 题 ？ Glu和 Cu2+在针铁矿表面的吸附状态 XPS的角分辩方法 对表面进行检测的信息深度为： d = 3λ(E)sinθ λ(E): 电子的平均逃逸深度(取决于电子能量) θ :电子出射角 通过改变光电子的出射角，就可以进行样品表面3λ(E)sinθ深度范围内的元素浓度及化学状态分析。 吸附在针铁矿表面的Glu的COO基(a)、NH2基(b)、及Cu2+ (c)的角分辨XPS谱 出射角为20° 时，检测的—COO-基最多； 出射角为40° 时，检测的—NH2基和Cu2+最多； C1s和N1s电子的能量相近，其λ(E)值也相近。 Glu的—COO-大部分离针铁矿表面较远，而— NH2处于更深的层次中。 虽Cu2+也在40° 时检测得最多，但其电子能量比C1s和N1s电子低，故Cu2+检测深度较小，即Cu2+不是直接吸附在针铁矿表面上。 Glu和 Cu2+在针铁矿表面的吸附状态主要为： （七） 有损深度分析 离子溅射法：厚质玻璃表面沾锡后，元素Sn的化学状态的 深度分布分析。 图4-54说明：浮法玻璃沾锡区表面的Sn3d谱，有两种化学状态的信息，一是元素态，二是氧化态。图4-54说明经3分钟的Ar+离子溅射后，Sn3d峰形几乎无变化，说明3分钟的溅射只去掉了表面污染，沾锡层在污染层以下，因此第一次溅射中，Ar+离子未轰击到沾锡层。 图4-55是在第一次溅射后，继续溅射3分钟后录制的Sn3d谱与Ar+溅射前的Sn3d谱的比较，发现高结合能端的Sn的氧化态峰的强度有明显衰减，元素态Sn的信号无明显变化，这一现象表明，浮法玻璃的沾锡面上，表面有一层来自环境的污染层，其次是Sn的氧化层，氧化层的下面是处于元素状态的Sn层；还说明沾锡是从元素态的锡开始的。 在生产过程中，表面沾锡经历了高温和大气的作用，逐渐氧化，形成一层表面氧化层。随着时间的推移，氧化层的上面又形成一层表面污染层，这一污染层通常要用大束斑(10mm)的Ar+离子枪，在5kV、20μA的条件下溅射3分钟左右才能完全消除。 （八） 质量分布分析 任何化合物，都有规律性很强的断键方式和固有的离子碎片，这些离子碎片按其质荷比，都有固定的相对强度。 因此，研究化合物的SIMS，可以判断化合物分子的元素组成、 化学键类型、官能团、分子式、分子量和分子结构式。 SIMS是用一次离子束（如Ar+、Ga+）作为表面探针，轰击样品的表面，从表面溅射出原子、分子和它们的离子，即二次离子，二次离子通过质量分析系统，依质荷比m/e的大小，一一得到检测并被记录下来。 7M