嵌入式sram优化设计方法与测试技术研究.pdfVIP

摘要 摘要 嵌入式存储器是集成电路IC(IntegratedCirciut)的重要组成部分，其在片上系 on 统SOC(SystemChip)中的数量和面积都在稳定地增加。嵌入式随机存储器 RAM(RandomAccess Memory)通常是SOC中密度最大的模块之一，在制造过程中 很容易产生缺陷，从而降低了SOC的成品率。降低嵌入式存储器的功耗可降低整 个SOC的功耗。本文深入地研究了嵌入式静态随机存储器SRAM(StaticRAM)的 高成品率及低功耗优化方法，并讨论了嵌入式SRAM的测试技术。主要的主要研 ‘ 究工作和成果如下： ‘ 1．论文首先分析了芯片制造过程中的缺陷类型，由此产生的电气性能的变化， 抽象出了芯片故障模型。研究了芯片测试的分类问题和测试成本的计算。讨论了 常用的可测性设计方法及SOC测试对测试人员和设计人员的挑战。 2．为了提高SOC的成品率，增加冗余逻辑来代替SRAM的错误