SiO2纳米线的低温合成与表征.pdfVIP

第28卷 第 9期 无 机 材 料 学 报 Vb1．28No．9 2013年 9月 JournalofInorganicMaterials Sep．，2013 文章编号：1000—324X(2013)09—0971—06 DoI：10．3724／SP．J．1077．2013．12725 核壳结构 SiC／SiO2纳米线的低温合成与表征 赵春荣，杨娟玉，丁海洋，卢世刚 (北京有色金属研究总院，北京 100088) 摘 要：以酚醛树脂 (PF)作为碳源，纳米 SiO2为硅源，在 1300℃氩气气氛下通过碳热还原反应，制各出具 有核壳结构的 SiC／SiO2纳米线 。采用 x射线分析衍射仪 (XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜 (TEM)、高分辨率透射 电子显微镜(