材料测试 第三章 电子显微分析-透射电镜.ppt

表1 光学显微镜与透射电镜的比较 观察和记录系统 a-墨汁(1:10)；b-ZnO；c-白垩颗粒；d-聚苯乙烯塑料球6000× 支持膜法透射电镜图像 超薄切片机 透射电子显微镜在高分子研究中的应用 分散物的形貌分析 插层纳米复合材料 支持膜及铜网的作用是？ 高抗冲性聚苯乙烯（HIPS）体系。运用超薄切片和OsO4染色技术制备HIPS样品。（HIPS：苯乙烯单体与丁二烯橡胶共聚的产物） 什么是超薄切片技术？染色的原理及作用？染色后，浅色部分是？深色部分是？ SBS从甲苯溶液中浇注成膜，经OsO4染色？染色后，浅色部分是？深色部分是？ 观察纳米填料的分散，PVC/埃洛石纳米管纳米复合材料的制样方法？TEM照片中深色部分是？浅色部分是？ 运用超薄切片和OsO4染色技术制备的HIPS样品。 电子束的穿透能力不大，这就要求要将试样制成很薄的薄膜样品。高分子材料用超薄切片机可获得50nm左右的薄样品。如果要用透射电镜研究大块聚合物样品的内部结构，可采用超薄切片法制样。 大多数聚合物由轻元素组成。在用质厚衬度成象时图象的反差很弱，因此，由超薄切片得到的试样还不能直接用来进行透射电镜的观察，还需要通过染色或蚀刻来改善衬度。 所谓染色指用一种含重金属的试剂对试样中的某一相或某一组分进行选择性的化学处理，使其结合或吸附上重金属，从而导致其对电子的散射能力有明显的变化。 如观察带双键的橡胶时，可采用四氧化锇、Br2或四氧化钌染色。四氧化锇或Br2 可与不饱和双键直接反应而起到染色作用。 课堂练习 1、有人拟通过透射电子显微镜（TEM）研究聚丙烯/聚丁二烯共混物样品中两种聚合物分散的均匀性，如果采用超薄切片法制样，试问可通过什么方法来提高图像的衬度？请说明理由。 支持膜材料必须具备下列条件：①本身没有结构，对电子束的吸收不大；②本身颗粒度要小，以提高样品分辨率；③本身有一定的力学强度和刚度，能忍受电子束的照射而不致畸变或破裂。 常用的支持膜材料有：碳、火棉胶、聚醋酸甲基乙烯酯、氧化铝等。 液相滴附法： 把高分子稀溶液、乳液或悬浮液吸少量放在支持膜上，干燥后观察 可溶性高分子样 0.1－0.5%稀溶液 直接成膜或于水（或甘油）表面成膜 高分子颗粒 极稀的悬浮液或乳液（万分之几或十万分之几，超声波分散） 支持膜上的粉末试样要求高度分散，可根据不同情况选用分散方法。  a b c d （2） 投影 用真空镀膜机把重金属以一定的角度沉积到试样表面上去，以提高衬度。 当试样表面存在凹凸起伏的表面形貌时，面向蒸发源的区域沉积上一层重金属，而背向蒸发源的区域会被凸出部分挡掉，沉积不上金属层，从而形成对电子束透明的“阴影区”，使图像反差大增，立体感加强。 （3）超薄切片法  高分子材料用超薄切片机可获得50nm左右的薄样品。如果要用透射电镜研究大块聚合物样品的内部结构，可采用此法制样。 用此法制备聚合物试样时的缺点是将切好的超薄小片从刀刃上取下时会发生变形或弯曲。为克服这一困难，可以先将样品在液氮或液态空气中冷冻；或将样品包埋在一种可以固化的介质中。选择不同的配方来调节介质的硬度，使之与样品的硬度相匹配。经包埋后再切片，就不会在切削过程中使超微结构发生变形。 包埋剂：邻苯二甲酸二丙烯酯、MMA/BMA均聚或共聚物、环氧树脂等。 由于切片为等厚度，衬度很小，一般须经染色处理（包埋前） （4）复型法  主要用于厚度大而无法切片的样品（如电子束不能投射或易受影响） 方法是将表面轮廓复型，观察复型膜。 不足之处：只能研究表面的形貌特征，不能研究其结构和成分分布。 常用方法：火棉胶一级复型（负复型）、碳膜一级复型（正复型，须重金属投影）、塑料膜-碳膜二级复型（负复型） 试样 塑料膜 塑料膜一级复型 剥离困难 负复型，反映复型膜的厚度差 火棉胶醋酸异戊酯溶液 试样 重金属 投影层 正复型 碳膜 碳膜 碳膜一级复型 塑料膜 重金属投影层 碳膜 二级复型的碳膜 塑料膜－碳膜二级复型 负复型 图像的浮雕特征与试样相反 用醋酸纤维素膜（简称AC纸）或火棉胶等塑料进行第一次复型，然后在其与试样接触的表面再制作碳膜复型（用重金属投影后蒸发碳层）。 试样 （5）染色和蚀刻 大多数聚合物由轻元素组成。在用质厚衬度成象时图象的反差很弱，因此，由超薄切片得到的试样还不能直接用来进行透射电镜的观察，还需要通过染色或蚀刻来改善衬度。 所谓染色 用一种含重金属的