现代分析分析技术 第一章-XRF (制样方法).pptVIP

讨论： X射线荧光的原理与分析应用 要求：PPT 8-10 min； X射线原理（基础原理）； X射线应用分析； 应用范例（2-3个），包括制样-分析方法-谱图解析-结果表述 学生8左右（自由组合；或按顺序安排） * * * * * * * * * Folie.* ? 2001 Bruker AXS All Rights Reserved Folie.* ? 2001 Bruker AXS All Rights Reserved 现代分析测试技术Modern analytic and testing technologies 讲授教师：林旭聪 Institutions：福州大学化学学院 Address：旗山校区杨鸿耀楼433室 X射线荧光光谱分析技术之二：制样方法 制样的目的： 1、均匀 2、重复性好 3、颗粒效应小 4、矿物效应小 5、无限厚（薄膜法除外） 分析层的厚度：无限厚 X-ray tube to soller slit (collimator) 分析层(饱和厚度) 大于饱和厚度的样品称为无限厚样品 Sample 分析层的厚度：无限厚 Sample B KA1 (0,18 keV) Sn LA1 (3,4 keV) Cr KA1 (5,4 keV) Sn KA1 (25,2 keV) tu