门控分幅相机的能谱响应特性的研究.pdf

Study on Energy Dependent Sensitivity of Gated Framing Camera A Thesis Submitted to Chongqing University in Partial Fulfillment of the Requirement for the Degree of Doctor Master of Engineering By Yuan Zheng Supervised by Prof. Xiao Shali Prof. Liu Shenye Major ：Precision Instrument and Mechanism College of Photoelectric Engineering of Chongqing University , Chongqing, China April 2009 摘 要 门控分幅相机现已成为国内ICF实验的重要诊断设备，在黑腔物理、X光辐射 输运、辐射烧蚀不透明度等研究领域中扮演着至关重要的角色。而目前使用的门 控分幅相机仍然存在量子效率不明确、能谱响应度曲线未知，响应影响因素不明 等问题，导致ICF实验结果无法精确量化。因此，研究门控分幅相机的能谱响应问 题对于高能高密度等离子体发射的宽频带X射线成像是非常重要的。 在深入研究了门控分幅相机的基本结构、工作原理和主要参数指标后，基于 美国利弗莫尔实验室和圣地亚国家实验室等的研究成果，建立了分幅相机的核心 元件——金阴极MCP 的能谱响应二维简化理论模型，推导得出了能谱响应的计算 公式，并模拟得到了理论响应曲线。该理论研究主要从阴极光电产额、多通道效 应、微孔内壁铅层的光电效应、单个微通道的增益几方面来开展。在阴极材料和 入射光子能量一定时，阴极光电产额与阴极的质量光致电离截面、阴极质量密度 和入射光子能量成正比，而X射线衰减长度、二次电子在阴极材料中的平均逃逸深 度等也是影响阴极光电子产额的重要参数；当入射的X光子能量较大时，X射线可 能穿透MCP微通道壁而进入相邻通道内，从而在该通道内发生光电转换产生光电 子，即多通道效应，研究此效应对金阴极MCP能谱响应的影响，其关键在于MCP 材料对X射线的吸收系数和光电子产生的位置；X射线穿透微通道后可能会轰击相 邻通道壁的铅层，从而因铅的光电转换而产生的光电子也会在通道内碰撞得到倍 增，因而计算时需要考虑铅的光电子产额和由此引起的电子增益；MCP对光电子 的倍增作用可由MCP单个微通道的增益来计算，将微通道视作离散的打拿极，光 电子产生的位置不同，其倍增级数则不同，综合来看增益主要由MCP长径比和光 电子产生处距电子出射面的距离决定。从理论模拟结果可得出结论：金阴极MCP 的能谱响应与金和铅的密度、费米波矢、质量光致电离截面、二次电子逃逸深度、 X射线衰减长度、MCP通道材料对X射线的线性吸收系数等有关。 为了解金阴极 MCP 在紫外波段的能谱响应特性，探索金阴极 MCP 能响标定 的实验条件，设计了金阴极MCP 探测器在紫外波段能谱响应的测定实验。分析实 验结果得出结论：当电子收集极与 MCP 输出面之间距离为 0.5mm 时，只需要 9V 收集电压就可将二次电子完全收集；MCP 的暗电流在皮安量级，且在 25pA 附近 随机波动；金阴极 MCP 探测器在入射光子能量低于 4.9eV(金的逸出功)大于 4eV 时仍有一定响应；金阴极的光谱响应曲线在 5.72eV 处存在一个响应峰值，该峰值 是金的选择性光电效应峰值。 在紫外能谱响应实验的基础上，利用北京同步辐射装置 3B3 实验站的单色 X 射线进行了三种金阴极 MCP 探测器在 X 射线段(2.1～6keV)的能谱响应的标定实 验。标定结果表明： ①如理论所预言，金阴极 MCP 的能谱响应总体上是随入射光子能量增大而衰 减的。但其中会因为某些元素的吸收边而存在一些陡峭的小峰。 ②入射角越大，则增益