結構光量測與相位展開-建國科技大學機械工程系暨製造科技研究所.pdfVIP

結構光量測與相位展開 指導老師：張曜庭 組員：洪建洲 劉冠賢 洪智傑陳絹縈 李俊杙張馨方 建國科技大學 機械工程系 一、簡介： 正弦結構光應用於表面輪廓之量測，具有非接觸性、非破壞性與全場分析等優點，並 不受限於量測環境的要求，可以在夜間露天實施檢測。本系統的光源來自單槍投影機，以 電腦模擬出正弦結構光，直接投射在物體表面， CCD 將拍攝的圖像透過影像擷取卡，匯 入電腦並以 labview7.1 做分析，配合相移技術先把四張圖像作反正切運算，再濾波消除過 多的雜訊，對於形貌不連續或相位斷裂情形，研究出一套分支切割技術的方法，最後利用 像素型與區域型相位展開出物體表面 3D 輪廓。 二、動機： 待測物體的表面輪廓如果太大時，很難用傳統的量測方式做輪廓值的檢驗，因此無法 與原始設計作比較，可能造成的問題是與實際尺寸差異頗大，失去原始設計的精度要求； 我們將使用光學檢測方法，以非接觸、非破壞與全場分析將物體各部輪廓重建，再經過圖 像接合方法，逐步建構出物體表面輪廓的外形。 三、功能：