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基圆盘与导轨间滑移对双盘式渐开线测量仪测量精度的-光学精密工程
第 卷 第 期 光学 精密工程
19 10
Vol.19 No.10
O ticsandPrecisionEnineerin
年 月 p g g
2011 10 Oct.2011
文章编号 ( )
1004924X201110245007
基圆盘与导轨间滑移对双盘式渐开线
测量仪测量精度的影响
,
1 12 1 1
娄志峰 ,王立鼎 ,王晓东 ,马 勇
( 大连理工大学 精密与特种加工教育部重点实验室,辽宁 大连 ;
1. 116023
2.大连理工大学 微纳米技术及系统辽宁省重点实验室,辽宁 大连 116023)
摘要:由于在双盘式渐开线测量仪中,基圆盘与导轨间的滑移是影响测量精度的重要因素,而有效控制轮轨间的摩擦力
可解决基圆盘滑移,本文分别采用传动绳与传动带驱动基圆盘滚动,分析了在不同测量力情况下基圆盘与导轨间的摩擦
力及其对滑移的影响。结果显示,当采用传动绳驱动测量力为0.7N及采用传动带驱动测量力为 0.2N,基圆盘顺时针转
动测量渐开线时,轮轨间的摩擦力分别为 与 ,此时基圆盘滑移对渐开线测量影响可以忽略。另外,增加基圆
0.02N 0.07N
盘组件的配重也能够有效减小基圆盘滑移,此时基圆盘顺时针与逆时针转动测得的渐开线齿形的差异为0.06 m。
μ
关 键 词:双盘式渐开线测量仪;基圆盘;滑移
中图分类号: ; 文献标识码: : /
TG86TH71 A 犱狅犻10.3788OPE2450
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