X射线衍射原理与应用.ppt

（1） 一般性质 X射线和其它电磁波一样，能产生反射、折射、散射、干涉、波动、衍射、偏振和吸收等现象。 但是，在通常实验条件下，很难观察到X射线的反射。只有在其掠射角极小(不超过20‘－30’)时，X射线能产生全反射。 （2） 衍射性质 在物质的微观结构中，原子和分子的距离（1 － 10A左右）正好落在X射线的波长范围内，所以物质对X射线的散射和衍射能够传递极为丰富的微观结构信息。 大多数关于X射线光学性质的研究及其应用都集中在散射和衍射现象上，尤其是衍射方面。 X射线衍射方法是当今研究物质微观结构的主要方法之一。  布拉格公式（x射线衍射公式） 2dsinθ=nλ, n=1,2,... （3） 穿透性质 X射线可以穿透由较轻元素组成的物质。 在X射线穿透物质的过程中，有一部分会被物质吸收。吸收的程度与物质的组成、密度和厚度有关。 X射线作用生物细胞组织，还会导致生理效应，使新陈代谢发生变化甚至造成辐射损伤。 （4） 散射性质 X射线散射的过程又可分为两种，一种是只引起X射线方向的改变， 不引起能量变化，即不引起波长变化的散射，称为相干散射，这是X射线衍射的物理基础； 另一种是既引起X射线光子方向改变，也引起其能量的改变的散射，称为不相干散射或康普顿散射。 X射线分为两类： （1）具有连续波长的X射线——连续X射线，也称为多色X射线，形成的是连续谱。 （2）在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线，构成标识（特征）谱，与可见光中的单色光相似，故也称为单色X射线。 如右图不同管电压下的连续X射 线谱的特点 （1）连续X射线的强度是随波长 的变化而连续变化。 （2）每条曲线都有一个强度最大值。 （3）短波长方向有一个短波极限 （4）管电压升高，X射线强度增加 标识X射线是在连续谱的基础上产生的， 当管电压达到一定程度（激发电压）时， 才可以产生标识X射线谱。 标识X射线的产生机理 标识X射线的产生机理与阳极物质的的原子内部结构密切相关。原子内的电子按泡利不相容和能量最低原理分布在各个能级。原子系统内的能级是不连续的，按其能量的大小分为数层，用K、L、M、N、O、P、Q命名。K层能量最高，最靠近原子核。 在电子轰击阳极的过程中， 当某个具有足够能量的电子 将阳极靶原子的内层电子击 出时，低能级上出现空穴， 原子系统的能量升高，处于 激发状态，而激发态是不稳 定的，随后较高能级上的电 子向低能级上的空穴跃迁， 使原子的系统能量重新降低 而趋于稳定，这种跃迁将以 光子的形式辐射出标识X射 线谱。因此空穴的存在是产生标识辐射的先决条件，且 标识谱只与元素的原子序数Z有关。 2.5 主要用于各种无机和有机固体材料的表面元素或其价态的定性和定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析。 可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。 2.6 X射线衍射的应用 2.6.1 物相定性分析即固体由哪几种物质构成 不同的多晶体物质的结构和组成元素各不相同,它们的衍射花样在线条数目、角度位置、强度上就呈现出差异,衍射花样与多晶体的结构和组成有关,一种特定的物相具有自己独特的一组衍射线条(即衍射谱),反之不同的衍射谱代表着不同的物相.若多种物相混合成一个试样,则其衍射谱就是其中各个物相衍射谱叠加而成的复合衍射谱.因而,我们可以通过测定试样的复合衍射谱,并对复合衍射谱进行分析分解,从而确定试样由哪几种物质构成 2.6.2物相定量分析 物相定量分析的任务是用X射线衍射技术,准确测定混合物中各相的衍射强度,从而求出多相物质中各相的含量.其理论基础是物质参与衍射的体积或者重量与其所产生的衍射强度成正比,因而,可通过衍射强度的大小求出混合物中某相参与衍射的体积分数或者重量分数,从而确定混合物中某相的含量 2.6.3宏观应力的测定 在材料部件宏观尺度范围内存在的内应力分布在它的各个部分,相互间保持平衡,这种内应力称为宏观应力,宏观应力的存在使部件内部的晶面间距发生改变,所以可以借助X射线衍射方法来测定材料部件中的应力.按照布拉格定律可知,在一定波长辐射发生衍射的条件下,晶面间距的变化导致衍射角的变化,测定衍射角的变化即可算出宏观应变,因而可进一步计算得到应力大小.总之,X射线衍射测定应力的原理是以测量衍射线位移作为原始数据,所测得的结果实际上是应变,而应力则是通过胡克定律由应变计算得到。 借助X射线衍射方法来测定试样中宏观应力具有以下优点:(1)不用破坏试样即可测量;(2)可以测量试样上小面积和极薄层内的宏观应力,如果与剥层方