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CPT色纯漂移自动测量 李志能毕岗 0027) (浙江大学信息与电子工程学系，杭州．31 MeasurementofCPTDecolorization Automatic LizhmengBi gang (DcparlrncntoflnformationandElectronics Ertgineerirtg，Zhcjiang 摘要 本文提出了凹点法测量显像管色纯飘移，建立了自动测试系统，实现了快速高精度的测试， 为高分辨率彩色显像管(旧TV)的研制提供了有力的工具． 关键词：彩色显像管(CPT)：色纯漂移：凹点法；自动测量 1 引言 高分辨率彩色显像器件要求显示的图像色彩丰富，不失真，长时间稳定。色纯度和色 稳定性是其中的重要指标。由于彩色显像管采用荫罩进行分色，而荫罩的电子束通过率一 般只有20％．而绝大多数被荫罩截获，导致荫罩变形，红、绿、蓝三电子束着屏位置相对于 彩色显像管荧光屏上红、绿、蓝粉组点发生相对位移，荫翠变形既有横向的又有纵向的， 而且在荫罩的不同位置上温度不一样，其位移量也是不同的。通常在荫罩的框架上按装双 金属片，给予补偿。但是由于工艺，材料等诸多因素影响，不可能完全补偿，导致红、绿、 蓝三个电子束不能始终如一的打到对应的荧光屏粉点上，导致电子束着屏发生误差，如图 l，l所示“1，从而引起了所谓色纯漂移，也就发生了颜色失真口J。色纯漂移在彩色显像管初 始阶段较为严重，它是随着时间而变化的，当荫罩形变趋于热平衡状态时，色纯漂移量就 趋于一个稳定的数值pJ。显然，色纯漂移量的大小影响着彩色圈像的质量，受到彩色显像管 特别是高清晰度彩色显像管生产厂家和用户的关注。以往传统的测试方法，由经过训练的 测试人员利用高倍带刻度的显微镜在屏上逐点进行测试，测试工作量大，一只管子需要测 数百个点，易于疲劳，长期测试受x射线辐射影响．此外每个测试人员目测精度不一，缺乏 ● shift,ifter5 after20mLqutes I,mding minutes shift landing (a)Beam Co)Beam 图1荫罩的温度分布 232 客观的一致的标准．近年来-国外发展了一些自动测试装置，如加拿大的ADIS820C叮测试 系统·其测试原理未报道，而且价格昂贵。本文提出了利用凹点法进行自动测试色纯漂移， 整个系统测量误差,J、-7：±5％，精度小于5岫。 2凹点法测量原理 2．1色纯漂移量定义 在显微镜目测法中，在微电流的情况下，调整偏转中心的位置，使通过荫罩孔的电子束的 边沿恰好分别打到两个相邻的荧光粉条上．选取一黑条的边沿作为基准位置，可分利测得 电子束边沿的距离，设为a，b。如图2(a)所示，那么电子束中心的位置为(a+b)，2，经过 一段时间以后，荫罩受热变形，使电子束打在粉条上的中心会有所漂移，如图2(b)所示。 此时电子束的中心为(8’+b’)，2，那么色纯漂移量为 △：…么一(a+噘 (1) 蔫 _ 盛J拦如