GaN基发光二极管可靠性研究进展.pdfVIP

趋势 与 展望 少 基发光二极管 的可靠性研 究进展 艾 伟 伟 , 郭 霞 , 刘 斌 , 宋 颖 婷 , 刘 莹 , 沈 光 地 北 京 工 业 大 学光 电子 技 术 实验 室 , 北 京 摘 要 高效 高 亮 度 基 发 光 二 极 管 在 图像 显 示 、 信 号指 示 、 照 明 以及 基 础 研 究等方 面 。 有 着 极 为广 阔 的应 用 前 景 , 器 件 的可 靠 性 是 实现 其 广 泛 应 用 的保 证 本 文 从 封 装 材 料 退 化 、 金 属 的 电迁 移 、 型 欧姆 接触 退 化 、 深 能级 与 非辐射 复合 中心 增加等方 面 介 绍 了 基 的退化机 理 以及 提 高器 件 可 靠 性 的措施 , 并对 基 的应 用 前 景进 行 了展 望 。 关 键 词 氮 化 嫁 发 光 二 极 管 退 化 机 理 可 靠 性 一 一 中图分 类号 文 献标识