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- 2016-03-17 发布于安徽
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摘 要
硅是地球上储藏最丰富、使用最广泛的半导体材料,在微电子领
域已有大量应用。最近二十多年来,硅材料在微机电系统中也有广泛
应用,如人们研制成功各种的硅微型压力传感器、硅微尺度的加速度
计。热学性质是硅材料的一种基本物理性质,对它们的了解和掌握将
有助于我们成功设计和可靠使用基于硅材料的各种微机电系统构件。
热膨胀作为硅单晶材料的最重要的一种热学性质,长期以来得到了人
们充分的理论与实验研究。人们通过实验,发现它在低温下有负热膨
算得到负热膨胀系数。因此应用该模型不能解释硅单晶材料的低温下
有负热膨胀的物理机制,必须进行修正。
本文将揭示硅晶体在低温下具有负热膨胀性质的微观机制,对
为微型机电系统构件的合理设计和可靠使用提供理论依据。该研究方
法同样适用于其他金刚石结构的晶体材料的热膨胀性质研究,具有普
适性。
本文的主要内容包括:
1.介绍硅材料其热物性尤其是热膨胀性质的理论与实验研究现
状及研究意义。
以及分子动力学模拟的主要步骤和流程,并加以实验数据进行
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