高纯材料制备技术(材料分析)课件.pptVIP

图10-11 X射线光谱仪 图10-12 波长色散X射线荧光光谱仪原理图 d全反射X射线荧光光谱 如果介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。因此，如果介质1是空气，那么折射线会偏向界面。如果介质1的掠射角足够小，并使介质2的掠射角为零，此时的掠射角称为临界角。当介质1的掠射角小于临界角时，界面就像镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。 C、XRF的分析特性 XRF的特点有： (1)分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定； (2)荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便； (3)分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析，重元素的检测限可达10-6量级，轻元素稍差； (4)分析样品不被破坏，分析快速、准确、便于自动化； (5)样品可以是固体、粉末、熔融片、液体等； (6)具有重现性好、测量速度快、灵敏度高的特点； (7)无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平。 October 14， 2010, Beijing, China 激光质谱法 A概述 人们对物质做质谱研究始于19世纪末。1898年，实现了在电场和磁场中偏转正离子束；1912年，使用磁偏转仪器证明氖有相对原子质量为20和22的两种同位素存在；1919年，制造出了最精密的测量质量的仪器——质谱仪，分为单聚焦和双聚焦，其分辨率相当于一光学系统，后有四极质谱，分辨率为1000s，检测范围为一至几百个相对原子质量。图10-13为激光质谱仪装置图。激光质谱法(REMPI+TOF-MS)的基本原理是REMPI+TOF质谱的方法，确切地说它主要是(1+1)REMPI+TOF质谱方法。该方法在化学物理领域是一种比较常用的技术，它在研究分子与原子的能级结构等方面已获得了丰富的成果，现已发展成为一种比较成熟通用的研究方法。 B激光质谱法工作原理 激光质谱法是20世纪60年代随激光器的发展而发展起来的，是由德国人于1993年提出来的一种全新的测污方法，是一种理想的用于对尾气进行多组分实时在线检测的分析工具。在对物质电离的过程中，只有与分子的吸收带相共振的光才能实现对分子的有效电离，这个过程中分子与光相互作用实现了REMPI光谱选择。电离以后在经过飞行区时遵循动能定理： (10—1) October 14， 2010, Beijing, China 离子在被电离后获得的能量qU相同，但是对于不同的分子因为质量不同，所以在飞行区飞行时速度是不同的。则离子到达离子收集器(微通道板)的时间不同，这样就得到质量随飞行时间的变化关系图，即分子的多光子电离飞行时间质谱(MPI-TOFMS)，在得到分子质谱的过程中实现了REMPI的质谱选择。 C REMPI+TOF—MS的特点 与其他研究方法相比，激光质谱法有以下几个优点： (1)高选择性。TOF可以精确给出被探测物的质量数，因此，排除了产物种类的不确定性，REMPI可以获得不同分子的光谱，因而激光质谱法可以对光谱和质谱双重选择。 (2)具有极高的灵敏度。利用激光质谱法对光离子的收集效率可达100％，成为高灵敏探测的有力手段，可作单原子和极低分子密度下的灵敏探测。 (3)快的响应速度。激光质谱法的时间响应小于100ms，即瞬间、在线检测，有利于真实反映离子的真实面目。 (4)可同时多组分测量。只要被所选激光激发电离的分子离子，碎片离子都能同时测量，这是通常探测方法所不能比拟的。 (5)对环境气体不敏感。挑选对环境气体不敏感的激光波长进行实验，则可以很大程度上增强检测的准确性，可以提高信噪比，常用的激光波长是由Nd／YAG基频经二倍频产生的532nm、三倍频产生的355nm、四倍频产生的266nm及准分子激光器等。 基于以上优点，最近十几年来，这种方法在国内外物质研究领域中得到了广泛应用。 图10-13 激光质谱仪装置图 辉光放电质谱法 A概述 辉光放电质谱法(GD-MS)被认为是目前对固体导电材料直接进行痕量及超痕量元素分析的最有效的手段。由于其可以直接固体进样，近20年来已广泛应用于高纯金属、合金等材料的分析。辉光放电质谱由辉光放电离子源和质谱分析器两部分组成。辉光放电离子源(G