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对于单侧规范限,分别用下过程性能指数PpkL和上过程性能指数PpkU表示。 式中,X0.50是分布的50%分位数。对于正态分布, X0.50既是中位数,又是均值。 三、过程性能指数 对于正态分布,下过程性能指数PpkL和上过程性能指数PpkU可以分布表示为 Ppk称为最小过程性能指数,它也是上过程性能指数和下过程性能指数中的较小值。 三、过程性能指数 需要注意的是过程能力指数是针对已被证明处于统计受控状态的过程,而过程性能指数则是针对未被证明处于统计受控状态的过程。 【例6-4】 某供应商提供了一批产品,尺寸为,每次抽取5个样本,数据如表6-1,试分析其过程能力。 和教材不同,全部数据作为一个供应商考虑,没有考虑供应商的不同 对样本数据进行分析,其(组内)过程能力指数Cp=1.16, Cpk=0.90,过程性能指数Pp=1.08, Ppk=0.83 ,过程能力不足,其实测性能不合格率为10000PPM。过程能力图中也提供了组内性能和整体性能的预测。 第四节 过程能力的分析与评定 一、Cp和CpK的比较与说明 无偏移情况的Cp表示加工过程的一致性,即“质量能力”,Cp越大,则质量特性值的分布越集中,质量能力越强。 而有偏移情况的CpK表示过程中心μ偏离规范中心M的偏移情况,CpK越大,则两者偏离越小,亦即过程中心μ对规范中心M越接近,这是过程质量能力和管理能力两者综合的结果。故CpK和Cp两者的着重点不同,需要同时加以考虑。 联合应用Cp和Cpk,可对产品质量有更全面的了解。 表6-2联合应用Cp和Cpk所代表的合格品率(%) Cpk Cp 0.33 0.67 1.00 1.33 1.67 2.00 0.33 68.268 84.000 84.134 84.134 84.13447 84.13447 0.67 95.450 97.722 97.725 97.72499 97.72499 1.00 99.730 99.865 99.8601 99.86501 1.33 99.994 99.99683 99.99683 1.67 99.99994 99.99997 2.00 99.9999998 二、过程能力指数Cp、CpK和不合格品率p的关系 1、无偏移时Cp和不合格品率p的关系 例6-4:某零件加工尺寸为mm,经抽样200件, 得到样本平均值 =49.969mm,标准差为s=0.012mm,求不合格率p和合格率q。 解:从题可得 由题可知规范中心为 由于规范中心和分布中心重合,故 查标准状态分布表,知 不合格品率 合格品率 q=1-p=1-0.98%=99.02% 2、有偏移过程能力指数CpK、偏移度K和不合格率p之间的关系 1)当分布中心向规范上限TU偏移时 因 故 故总不合格率为: 当K较大时,pL可略去,故 2)当分布中心相规范下限TL偏移时, 同理,可求得: 当K较大时,pU可略去,故 Cp 规格公差(T) 不合格率(规范以外比率) 单侧规范 双侧规范 0.33 2σ(±1σ) 15.87% 31.74% 0.67 4σ(±2σ) 2.27% 4.54% 1.00 6σ(±3σ) 0.14% 0.27% 1.33 8σ(±4σ) 31.5 PPM 63 PPM 1.66 9.6σ(±4.8σ) 0.81 PPM 1.62 PPM 1.76 10.4σ(±5.3σ) 0.06PPM 0.12PPM 2.00 12.0σ(±6σ) 1.0 PPB 2.0 PPB 表6-3 ε=0时,过程能力指数(Cp值)与不合格率p的关系 用Cp和k值估计不合格品率 Cp k 0.03 0.04 0.08 0.12 0.16 0.20 0.24 0.28 0.32 0.36 0.40 0.44 0.48 0.25 .0.50 13.86 13.34 13.64 13.99 14.48 15.10 15.86 16.75 17.77 18.92 20.19 21.58 23.09 24.71 0.60 7.19 7.26 7.48 7.85 8.37 9.03 9.85 10.81 11.92 13.18 14.59 16.51 17.85 19.69 0.70 3.57 3.64 3.83 4.16 4.63 5.24 5.99 6.89 7.94 9.16 10.55 12.10 13.84 15.74 0.80 1.64 1.69 1.89 2.09 2.46 2.94 3.55 4.31 5.21 6.28 7.53 8.98 10.62 12.48 0.90 0
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