X线头影测量解析.ppt

X线头影测量分析Cephalometrics Analysis  简介 1934年Hofrath and Broadbent 提出 我国于20世纪60年代初运用于临床 通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段. 一、主要应用 研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析 1.研究颅面生长发育 不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育 同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育 明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。 ---“颅面生长发育”章节 2.牙颌、颅面畸形的诊断分析 3.确定错牙合畸形的矫治计划 5.外科正畸的诊断和矫治设计 通过X线对颅面畸形患者进行分析 得出畸形的机制 确定手术部位、方法及需要移动或切除的部位 局限性 标记点的定位都是相对 标记时存在个体差异 存在种族、性别的差异 1.头颅定位X线要求： 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。 2.头影图的描绘 X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现的左右影像不完全重合 常用头影测量标志点 标志点：用来构成一些平面及测量内容的点 1.解剖的，真正代表颅骨的解剖结构 2.引伸的，如两测量平面相交的一个标志点 Landmark （定点） 1.颅部标志点 2.上颌标志点 3.下颌标志点 第二次实验 头影测量平面 1.基准平面(Reference line)： 头影测量中相对稳定的平面 SN 平面－ 前颅底平面 FH 平面－Frankfort 平面 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线 基准平面 测量平面 全颅底平面 常用硬组织测量项目 X线头影测量 常用于临床对错牙合畸形机制进行分析 前提： 头影测量分析目的: 每一个项目有特定意义说明相应结构的特征或生长变化趋势！ 必须综合的评价各项测量指标，才能明确畸形机制，作出正确诊断! 上下颌骨的常用测量项目 上下前牙常用测量项目 头影测量分析方法很多 针对不同种族、人群研究课题的各测量项目均依据不同的分析内容而定。 华西医科大学头影测量分析法 Landmark （定点） Reference line（基准平面） Cephalometric measurement （测量内容） 常用的分析方法 Downs analysis Tweed analysis Steiner analysis Wylie analysis Rickettes analysis NJMU analysis Contents Hot Tip How do I incorporate my logo to a slide that will apply to all the other slides? On the [View] menu, point to [Master], and then click [Slide Master] or [Notes Master]. Change images to the one you like, then it will apply to all the other slides. Diagram Cycle Diagram Diagram Diagram Diagram Diagram Diagram Table Diagram