第二章电阻应变片及测量电路.解读.pptVIP

电阻应变片的发展与应用 －电阻应变片测量技术起源于19世纪。 －1856年，汤姆逊对金属丝进行了拉伸试验，发现金属丝的应变和电阻的变化有一定的函数关系；之后，人们利用惠斯登电桥来精确地测量电阻的变化。 －1938年，E·西门斯（E．Simmons）和A·鲁(A．Ruse)，制出了第一批实用的纸基丝绕形式电阻应变片。 －40年代，出现了可调节的由测量电桥和放大器组成的电阻应变仪，使电阻应变测量技术在工程技术和科学实验领域内获得广泛的应用。 －1953年．P·杰克逊利用光刻技术，首次制成了箔式应变片，随着微光刻技术的进展，这种应变计的栅长可短至0.178mm －1954年．史密斯发现半导体材料具有的压阻效应。 －1957年，W.P.Mason，等研制出半导体应变片，其灵敏系数比金属丝应变片高50倍，现已用于不同环境、条件下各种类型的电阻应变片，还有用于测量残余应力和应力集中等的特殊应变片 －60年代，出现了采用直流放大器的电阻应变仪。 近来，朝着数字化、自动化方向发展，现已有数字式测量动、静态数据采集处理系统。目前，各种不同规格、不同品种的电阻应变片已有二万多种。 －电阻测量技术可分为静态应变测量和动态应变测量两类。 －恒定的载荷或短时稳定的载荷的测量，称为静态测量； －对载荷在2-1200Hz范围内变化的测量，称为动态测量。 －不同的工作温度对电阻应变片和导线等有不同的要求，一般将应变测量按工作温度分为五个区段： 超低温应变测量： -l00℃ 低温应变测量： -30-l00℃ 常温应变测量： 30一60℃ 中温应变测量： 60一300℃ 高温应变测量： 300℃ 实验表明：?E比(1+2?)大近百倍，故(1+2?)可忽略，故半导体应变片的灵敏系数为： 电阻应变片常温工作特性 灵敏系数 轴向受力，应变片电阻值的变化与沿轴向应变的比值。 K－是反映电阻应变片对构件表面单位应变所产生的电阻相对变化量。它的大小主要取决于敏感栅材料的灵敏系数K0，但两者又不相等。 原因: 由于横栅的存在，使制成敏感栅之后的灵敏系数小于丝材的灵敏系数，差别的大小与敏感栅的结构形式和几何尺寸有关。 试件表面的变形是通过基底和粘结剂传递给敏感栅的，电阻丝横界面的几何不均匀等的影响。 电阻应变片常温工作特性 电阻应变片常温工作特性 电阻值下限： 单用一根金属丝作为敏感元件来测量应变，在理论上是可能的。然而，为了防止电源超载，并使金属丝中电流所产生的热量不过大，金属丝的电阻值不能太小，对金属丝的阻值给定一个下限：约为100Ω。 电阻应变片常温工作特性 电阻应变片常温工作特性 式中，l0为温度为t0时的应变丝长度；lt1为温度t时的应变丝长度；lt2为温度t时应变丝下试件的长度；?丝、?试为应变丝和试件材料的线膨胀系数；?lt1、?lt2为温度变化?t时应变丝和试件膨胀量。 电阻应变片常温工作特性 ②双金属敏感栅自补偿应变片 这种应变片也称组合式自补偿应变片。这是利用两种电阻丝材料的电阻温度系数不同(一个为正，一个为负)的特性，将二者串联绕制成敏感栅。 电阻应变片常温工作特性 电阻应变片常温工作特性 绝缘电阻 应变片敏感栅（包括引线）和安装应变片的试件之间的电阻值，一般一兆欧计。此值常作为应变片粘结层固化程度和是否受潮的标志。绝缘电阻下降会带来零漂和测量误差 。 影响绝缘电阻的主要因素是： 湿度； 粘接剂吸收水分发生的体积膨胀 粘接剂吸收水分变软，粘接强度下降，灵敏系数降低 电阻应变片常温工作特性 绝缘电阻最终影响到测量的稳定性，表现为测试系统产生零漂。 为保证测量精度，一般要求绝缘电阻在50~100MΩ以上。 静态测量时，绝缘电阻不低于100MΩ；长期测量时，应大于500MΩ。 动态测量时，允许适当降低，一般在20以上，低于此值会严重影响测量的稳定性。 横向效应 电阻应变片常温工作特性 应变片的横向效应可用横向灵敏度表示，也可以用横向效应系数C表示： 横向效应系数仅与其几何尺寸有关，而与其应变量的大小无关。对一般应变片，C值为0.1~0.3%。基长较短，而敏感栅段数较多的应变片，C值可达5%。 为了减小横向效应，可采用基长较大的应变片。 电阻应变片常温工作特性 动态响应时间 机械应变传递到应变片的敏感栅所需要的时间称为应变片的动态响应时间。 一般来说，金属应变片的动态响应时间在10-7s数量级；半导体应变片的动态响应时间在10-11s数量级。 电阻应变片常温工作特性 机械滞后 机械滞后：对已安装的应变片，在恒定的温度环境中，加载和卸载过程中同一载荷下指示应变的最大差数 。 产生的原因：如应变片本身特性不好；试件本身的材质不