微聚焦磁光科尔效应仪教案分析.pptVIP

背景知识 实验原理 仪器简介 实验内容 一、背景知识 磁光克尔效应： 磁光克尔效应：1877年， Kerr发现铁磁体对反射光的偏振状态会产生影响，当一束偏振光打到样品表面时，铁磁性会导致反射光偏振面转过一个小角度，这个小角度叫做Kerr旋转角θ，同时，铁磁性会导致椭偏率也有一个小变化，这个变化叫做Kerr椭偏率。 SMOKE（Surface Magneto-Optic Kerr Effect）装置：测量灵敏度极高；无损伤测量；测量到的信息来源于介质上的光斑照射的区域。 纳米磁光克尔系统与表面磁光克尔系统的区别 纳米磁光克尔系统 光斑在3-5um， 可以探测纳米结构，灵敏度高 有光斑检测和样品表面结构检测系统，可以精确定位测量位置 表面磁光克尔系统 光斑100um以上，无法测量纳米结构，灵敏度低 无法定位样品中待测位置 NanoMOKE2系统的电子控制柜 NanoMOKE2系统的磁体 150mm行程样品控制台 四分之一波片 圆偏振光 自然光 自然光 线偏振光 偏振片（转动） 线偏振光 I 不变 线偏振光 I 变, 有消光 以入射光方向为轴 四分之一波片 椭圆偏振光 部分偏振光 线偏振光 偏振片（转动） 线偏振光 I 变, 有消光 部分 偏振光 光轴平行于最大光强或最小光强方向放置，或光轴平行于椭圆偏振光的长轴或短轴放置 线偏振光 I 变, 无消光 II 实验原理 所谓磁光克尔效应（magneto－optical Kerr effect，MOKE），是指当一线偏振光入射到磁化介质表面时，其反射光线的偏振性质会由于介质磁化强度的存在而发生变化（图1）。一般说来，反射光线会变成一椭圆偏振光，其椭偏率，称为克尔椭偏率，同时椭圆的主轴和原入射光的线偏振方向会有一个小的夹角，称为克尔旋转角。 图1 按照磁场相对入射面的配置状态不同,表面磁光克尔效应可以分为3种： a. 极向克尔效应, 薄膜样品磁化方向垂直于样品表面并且平行于入射面 b. 纵向克尔效应, 薄膜样品磁化方向在样品膜面内,并且平行于入射面 c. 横向克尔效应, 薄膜样品磁化方向在样品膜面内,并且垂直于入射面 a b c 激光器发射的激光束通过起偏棱镜后变为线偏振光, 然后从样品表面反射, 经过检偏棱镜进入探测器。检偏棱镜的偏振方向要与起偏棱镜设置成偏离消光位置很小的角度?（如图2所示）, 这主要是为了区分正负克尔旋转角, 若检偏棱镜方向设置在消光位置, 无论 反射光偏振面是顺时针还是逆时针旋转, 反映在光强的变化上都是强度增大, 这样就无法区分偏振面的正负旋转方向, 也就无法判断样品的磁化方向。当2个偏振方向之间有小角度?时, 通过检偏棱镜的光线有本底光强I0, 反射光偏振面旋转方向和?同向时光强增大, 反向时光强减小, 这样样品的磁化方向可以通过光强的变化来区分。 在图1的光路中, 假设取入射光为P偏振光, 其电场矢量EP平行于入射面, 当光线从磁化了的样品表面反射时, 由于克尔效应，反射光中含有很小的垂直于EP的电场分量Es, 如图2, 所示, 通常Es ? EP, 在一阶近似下有： 通过检偏棱镜的光强为 将（1）式代入（2）式得到 通常?较小，可取sin???，cos??1，得到： 一般情况下, ?虽然很小, 但? ? ?k, ?k ，而?k和?k在同一数量级上, 消去二阶项后, 考虑到探测器测到的是（4）式实数部分, （4）式变为: 无外加磁场下, 由(7)式得在样品达磁饱和状态下, ?k为: 实际测量时最好测量磁滞回线中正向饱和时的克尔旋转角?k+和反向饱和时的克尔旋转角?k- , (9) 从式(9)可以看出, 光强的变化?I只与?k有关, 而与?k无关, 说明在图1光路中探测到的克尔信号只是克尔旋转角。 当要测量克尔椭偏率?k时, 在检偏器前另加1/4波片, 它可以产生?/2的相位差, 此时检偏器看到的是i(?k+i?k)=- ?k +i?k，而不是?k+i?k，因此测量到的信号为克尔椭偏率，经过推导可得在磁饱和情况下?k为 (10) 四. 利用晶体的双折射 双折射现象: n1 n2 i1 (各向异 性介质 ) 自然光 ro o光 e光 re 寻常光和非寻常光: o 光 : 遵从折射定律 e 光 : 不遵从折射定律 e 光折射线甚至不一定在入射面内。 e ? ? o · · · e 方解石 o · · · 5.3 光通过单轴晶体时的双折射现象 1. 双折射现象和基本规律 · · · 方解石 o e e ? ? o · · · 以入射方向为 轴旋转方解石 方解石 偏振片 双折射的两 束光振动方 向相互垂直 2. 晶体的光轴 当光在晶体内沿某个特殊方向传播时不发生双折射，该方向称为晶体的光轴。