静电防护管理规范.docVIP

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静电防护管理规范

深圳市 电子有限公司 静电防护管理规PEZ063 版本:B 页修改号:1 第1页,共7页 1.目的: 防止因静电现象造成电子产品及电子零件之破坏。 2.范围: 适用于本公司电源类产品及其电子零部件作业之各课、部。 3.定义: 3.1.名词解释: 3.1.1.静电﹕一种处于相对稳定状态的电荷,它能引起的磁场效应较之电场效应可以忽略不计,其产生是由于物质的接触与分离、静电感应、介质极化和带电微粒的附着等物理过程而由之; 3.1.2.静电现象﹕由于带电体的静电场作用引起的静电放电、静电感应、介质极化以及静电力作用等物理现象的统称; 3.1.3.静电感应﹕在静电场影响下引起物体上的电荷重新分布的现象;。 3.1.4.静电场﹕静电荷在其周围空间所激发的电场,它是一种特殊物质,其最基本的特征是对位于该场中的其它电荷施以作用力,且不随时间而改变; 3.1.5.静电积聚﹕由于某种起电因素而在电介质或绝缘导体上产生电荷的速率超过电荷的消散速率,使得在其上呈现同性电荷的积聚过程; 3.1.6.静电消散﹕带电体上的电荷由于静电中和以及静电泄漏、静电放电而使部分或 全部消失的现象; 3.1.7.静电泄漏﹕带电体上的电荷通过带电体内部和其表面等途径而使之部分或全部消失的现象。 3.2.电阻率: 3.2.1.表面电阻率﹕对于流经一个表面的电流,每单位长度的主流电压相对于每单位 宽度的表面电流的比值以 Ω/square表示; 3.2.2.体积电阻率:在试样内的直流电场强度除以稳态电流密度所得的商,实际上可看作为一个单位正方体积里的体积电阻,以Ω.CM表示。 3.3.材料术语: 3.3.1.导体材料:一种具有较低的电阻率(表面电阻率小于1*106Ω/ square或体积电阻率小于1*105Ω.CM),除非使它与地面绝缘,否则其上难于积聚静电荷的材料; 3.3.2.静电消散材料:一种电阻率(表面电阻率1*105Ω/squareR1*1012Ω/square或体积电阻率1*104Ω.CMR1*1011Ω.CM)介于静电导体和非静电导体之间的材料; 3.3.3.绝缘材料﹕即为静电非导体,具有很高的电阻率(表面电阻率大于1*1012Ω/square或体积电阻率大于1*1011Ω.CM)的材料,因此能在其上积聚足够数量的静电荷而引起各 拟制:刘娇霞 审核:陈小印 批准:李战功 日期:10-11-26 静电防护管理规范 文件编号:PEZ063 版本:B 页修改号:1 第2页,共7页 种静电现象; 3.3.4.抗静电材料﹕当相对磨擦或者从相同的或其它类似的材料分离时,呈现最少电荷发生性能的材料,可防止静电放电或静电场通过进入的材料﹔或不允许穿过该材料损伤被保护物(表面电阻率109R1011Ω/square的静电放电保护材料)。 4.工作职责: 4.1.技术研发中心﹕负责提供特殊电子产品及电子零部件之静电防护要求,以及相关之检验标准制定。 4.2.品质﹕静电防护之过程稽核。 4.3.制造/仓库/品质:静电防护之对策实施及日常点检。 4.4.生技/行政:负责对静电接地、设备接地线的架设。 5.工作流程: 无。 6.作业说明: 6.1.环境管制: 6.1.1.对策方法﹕电子生产车间温度控制在5℃~30℃,湿度控制在20~75%;普通材料仓/成品仓温度控制在5℃~35℃,湿度控制在15~90%;针对电子元器件存放场所其湿度应控制在35~65%,温度10℃~28℃的范围内. 6.1.2.保养管理﹕测定器---温湿度计定期进行校正(1次/1年)。 6.1.3.点检管理: 6.1.3.1.测定器﹕温湿度计。 6.1.3.2.测定方法﹕参照温湿度计的使用说明。 6.1.3.3.测定时机﹕于作业前开始测定。 6.1.3.4.测定频率。 (1)SMT每4小时点检记录1次,记录窗体:「SMT环境温湿度记录表」。 (2)其它各部每天点检记录1次记录窗体,「环境温湿度管理记录表」。 6.1.4.异常处理: 6.1.4.1.温湿度计异常时请送仪校部门校正。 6.1.4.2.校正无效后,经维修无效时,请做报废处理,同时购买新品替补。 6.2.包装材料管制: 6.2.1防静电周转箱: 拟制:刘娇霞 审核: 批准: 日期: 静电防护管理规范 文件编号:PEZ063 版本:B 页修改号:0 第3页,共7页 6.2.1.1.对策方法﹕采用防静电周转箱(静电导体材料) ,其静电电压在-40v ~ +40v范围内,周转箱之顶层需加盖,同样使用静电导体材料而构成法拉第笼的形式以达到静电屏蔽功能。 6.2.1.2.保养管理﹕周转箱内外表面上不能有明显的污渍、磨损(投线前检查)。 6.2.2.点检管理: (1)测定器﹕静电电压测试仪。 (2)测定方法﹕测试仪之两发光点对着被测物

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