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电子产品ESD认证测试及防制技术 诚信科技股份有限公司 陈荣达 2003. 8. 25 目录 1. 前言 2.静电放电的型式 3. 静电放电测试法规 4.系统产品静电测试 4.1. IEC 51000-4-2测试电压规定 4.2 IEC 61000-4-2 测试结果评估判定 5.电子产品之ESD 防制设计 5.1. ESD的防护设计由PCB 阶段开始做起 5.2. 在PCB上对ESD保护常用之设计技术 5.3.系统产品之ESD防护 6. 结语 1. 前言 静电对电子产品的伤害一直是不易解决的问题，正常操作的电子产品一但受到静电的放电(ESD) 的作用时，常会出现一些不稳定的现象，如功能突然失常情形等，轻者须重开机才能排除，有时电子产品内的电子组件会不堪承受静电的电压或电流而损坏。为确保电子产品的功能，国际知名厂商都要求代工的产品必须符合国际规范IES 61000-4-2 ESD测试才会接受。然而欲使电子产品具静电防制能力，除了从半导体组件的防护更需从产品系统设计防制技术等两方面着手，才能发挥静电的防护功能。 2.静电放电的型式 静电放电的模式通常可以分为机器装置放电模式(Machinery ESD model)、家俱放电模式(Furniture ESD model)、人体放电模式(Personnel ESD model)等三类。简单说明如下: 机器装置放电模式较容易在自动化的控制流程中发生，因在自动化机器中被绝缘之金属组件与绝缘体的摩擦、或是绝缘液体或高压气体等流过摩擦产生的静电，当能量累积到某程度而对邻近形成放电的情形。 家俱放电模式通常发生在金属家俱与绝缘物体的摩擦，如在地毯上或塑料地板拉动家俱，或是人从椅子上站起来瞬间的摩擦产生静电。 人体放电模式是因人体的动作摩擦产生静电，如我们穿胶鞋在地毯行走时，因摩擦使地毯带正电胶鞋带负电，此时人体脚底会感应而带正电，同时使上半身带负电, 若这时候如用手接触半导体电子组件,会导致该组件损坏。 上述三种形式的静电放电对半导体制程和电子产品组装都显得很重要，其中以人体放电模式所产生的放电电压，对电子产品(半导体组件)之伤害问题最广，因此国际间对电子产品防护人体放电模式的法规要求日益严谨，即使半导体电子组件在出厂前通过零件标准法规的静电测试，被安装到成品后经常仍未能通过系统产层次的法规要求。 3. 静电放电测试法规 回顾10年来国际间关于耐静电测试的法规，在半导体及电子产业界几乎都已经熟悉美军标准MIL-STD-883. Method 3015所定义之人体静电放电模式 (ESD Human Body Model) ，且都接受它的测试水平要求。但近年来由国际电工协会(IEC: International Electro-technical Commission)所制定的电磁兼容基本规范(EMC Basic standards)中，包含一项静电测试规范 IEC 61000-4-2受到国际间多数国家的认同，对系统产品之静电耐受(immunity)要求及测试方法定义很完整，目前信息与行动通讯之国际大公司多引用这规范作为成品静电测试的依据。 IEC 61000-4-2主要是以模拟人体静电放电模式作为放电测试的基本架构，与MIL-STD 883 所定义之人体静电放电模式有点相似，最主要差别在于储能的电容值和放电电阻值不同，则放电能量及静电蜂值电流自然会有很大差异。图1是国际法规IEC 所定义的模拟人体静电放电枪的电路构造简图。表1所示为军用标准规范 883及国际规范IEC所定义的模拟人体ESD放电基本电路参数。 参数比较 MIL-STD-883(HBM) IEC 61000-4-2 (HBM) R1: 充电电流限制电阻 1 - 10 MW 50 - 100 MW R2 : 放电电阻 1500W 330W 储能电容 100 pF 150 pF 表1: MIL-STD-883 与 IEC 61000-4-2 之比较 先从表1的电容值比较, IEC规范的电容值为军规883的1.5倍。放电电阻值只约五分之一，这样的差异，不难了解这两种法规的严厉程度的差别,即使在相同的ESD电压所产生的峰值电流相差五倍。所以对电子组件伤害力也明显不同，如图2.所示, 8kV ESD 电压在MIL-STD -883 规范仅产生约5.3A的峰值放电电流， 而在IEC 61000-4-2 规范所产生的放电电流可达到30A, 峰值电流大于五倍. 这就是大部份产品在通过零件等级的静电测试后, 成品却有时仍会在系统法规IEC61000-4-2测试失败的主要原因也因此促使IEC61000-4-2成为多数人所接受之系统法规. 放电测试电压 (kV) IEC 61000 -4-2 MIL-STD-883 峰值放电电流(A)