X射线在位错和缺陷表征中的应用要点.pptVIP

Contents 缺陷对晶体性质的影响却非常大。例如，它影响到晶体的力学性质、物理性质（如电阻率、扩散系数等）、化学性质（如耐腐蚀性）以及冶金性能（如固态相变）等。位错是晶体中最重要的一种缺陷，对晶体（特别是金属晶体）的各项性能（特别是力学性能）有很大的影响。因此对晶体微观缺陷采用有效方法进行表征是非常必要的。 二、X射线形貌术 X射线衍射形貌术（X-ray Diffraction Topography，简称X射线形貌术，X-ray Topography）是应用X射线对固体材料进行分析、测试的一种实验技术，也是研究晶体材料缺陷的重要方法之一．它可以用来研究晶体材料的生长缺陷、加工缺陷以及使用缺陷。 X射线形貌术能无损的鉴别位错、堆垛层错、晶粒间界和一维或多维的点阵不完整。 实验原理 　X射线衍射动力学理论指出，当X射线入射到完整晶体内，其入射波与衍射波相互作用，产生初级消光。只有满足布喇格定律的晶体部分参与衍射，衍射角θ 的宽约10-5弧度。一般的实验条件,入射束的发散度约为10-4弧度。所以，动力学衍射束只利用了入射束中很小一部分能量。如果晶体内存在缺陷，正常的晶体点阵排列受到破坏，在缺陷周围区域的点阵面间距或局部阵面取向会发生变化，使得动力学衍射条件被破坏，初级消光现象就不再存在，而出现了运动学衍射区。对低吸收情况，如果点阵排列的变化缓慢，入射束经过运动学衍射区会给出额外的衍射