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page #0 AAS培训资料 PerkinElmer 上海办事处 3.2 平均吸收值和峰形吸收值 在火焰法中，只要试液连续不断喷入到火焰中，得到的吸收信号就能保持在一定的高度上，测量的值是某段时间的平均值。在石墨炉或氢化法中，试样的量是固定的，在原子化过程中，产生的信号随时间改变，在某一时间达到最大值。这种原子化模式，信号的大小可用峰高或峰面积表示。无论平均值或峰值，都是在峰值波长处测得的。 石墨炉原子吸收信号的大小与该原子的原子化时间及原子在炉中的停留时间有关，当原子化时间t1很短，停留时间t2较长时，峰高可代表吸收信号，通常情况下，采用峰面积来进行定量。即 化学干扰指试样在凝相或气相中，由于发生了化学反应，改变了基态原子浓度.典型的例子是Al对Ca的干扰，它们与氧生成难以解离的复合氧化物。加入镧盐可以很好地消除这种影响。镧盐被称为释放剂。Cr很难用空气乙炔焰测定，其灵敏度与燃助比及火焰高度密切相关。同时许多元素会干扰铬的测定。 光谱干扰有谱线重叠，分子吸收和光散射。谱线重叠并不多见，由分子吸收和光散射形成的背景是重要的. 火焰原子化器中的干扰主要是物理干扰和化学干扰，光谱干扰是次要的。石墨炉中的干扰主要是背景干扰。氢化物原子化主要是过渡元素Fe,Co,Ni及Cu和氢化物元素之间的干扰. 石墨炉中的干扰主要是分子吸收光谱和粒子的散射，二者的性质虽然不同，但都构成连续一片的背景.基体浓度大时,分子吸收光谱形成的背景也大.粒子的散射系数与粒子的数目及粒子体积的平方成正比,与波长的四次方成反比.这种干扰还与石墨炉的性能,升温速率有关.加入 基体改进剂,改变基体和被测组分的挥发性能,采用快速升温及横向加热,能有效减小背景干扰.在这个基础上,再用 塞曼扣背景技术扣除,背景,通常能得到很好的结果. 氢化物发生原子化的干扰机理通常认为是过渡元素 被还原后吸附氢化物,催化了氢化物分解,氢化物元素之间的干扰则是由于对氢基的竞争引起的. 8.4 分辨率 色散率和光谱通带 单色器的分辨率是指将两条邻近的谱线分辨清晰的程度。即 R=λ/dλ 光谱级次越高，光栅刻线数越多，分辨率R越高。实际分辨率常以分开Ni或Mn三线来衡量．即Ｎi232.0, 231.6 ,231.0;Mn279.5,279.8,280.1. 色散率是指将复合光色散分开成单色光的能力．色散率的大小用分开的角距离dφ 或 线距离dl表示，即dφ/dλ或dl /dλ，分别称为角色散率和线色散率，实际工作中常用倒线色散率dλ/ dl 。它反映了单位长度上所包含的光谱范围。 dλ/ dl 越小，说明谱线分得越开。 通带W是指出射狭缝上所包含的光谱范围。狭缝的机械宽度S用毫米表示，则 W =S dλ/ dl W越小，说明落在狭缝上谱线越少。如通带大于1nm,Ni的三条谱线全部落在狭缝上而同时进入检测器。对于谱线复杂的元素，应尽可能使用小的通带。 9 原子吸收应用技术 要用原子吸收方法解决测试工作中各种问题不是一件容易的事，不但要懂得分析原理，仪器结构原理，还涉及化学，机械，电子等多种技术。这里主要从分析化学的角度讨论一些应用技术问题。 1 常用术语 灵敏度 精密度 准确度 1.1 灵敏度 在AAS的发展史上曾用1%吸收所需要的物质浓度作为灵敏度，现在称1%吸收为特征浓度，即能产生吸光度0.0044所对应的被测物质浓度。灵敏度定义为校正曲线的斜率。在A=f(c)的校正曲线中，灵敏度用 S表示 S=dA/dc 常用检测限DL来表示方法是否灵敏，DL=3σ/S 式中σ为用空白溶液11次测量的标准偏差。 1.2 精密度 精密度是对同一试样进行多次测量所得结果的重复程度。精密度分仪器精密度和方法精密度，后者由测定过程中的随机误差决定。 精密度RSD用下式表示： RSD=σ/A σ为某试液测定11次的标准偏差，A为11次测定的平均值。 1.3 准确度 准确度是表示测定值与真值的符合程度。真值是无法得到的，需要通过多次准确测量才能得到。常用标准物质作比较来计算。如果没有标准物质，则需要用加标回收来证实。 2 测试通则 2.2 灯电流的大小应在满足能量和稳定的前提下尽可能小一些，以延长灯 的使用寿命和防止灵敏度降低； 2.3 细心调整外光路，使光束最大限度地通过原子浓度最